超聲探頭入射點“變化”來回答其“入射點”不隨材質而...

附件內容為一篇關于常規探頭入射點隨材質變化而變化的探討。內容觀點個人贊同，同時也學習了。但是我想討論的是何為實際檢測過程中真正需要的“入射點”（前沿）。論文中提出的“理論入射點”是不隨材質變化的，通過試驗測試，基于聲場特征，測試出的“實際入射點”隨材質變化而變化。針對文章提出的“實際入射點”變化，個人人為是因為測試方法引起的變化。材質變化，尤其粗晶粒材質，會引起聲束的偏轉，而設備在CSK-1A試塊上測試時是接收到R100半圓弧的反射回波，而非探頭入射波的在檢測表面的“起點”。這樣入射波和反射波存在偏差，而儀器是接收反射波，且根據反射波計算出的入射點。所以，文中提出“實際入射點”是變化的。而在實際檢測時候，同一材料，不同厚度、深度導致的聲束偏轉程度是不同的，R50測量一個數值，R100測量有一個數值，這樣導致“入射點”對于同一種材質檢測不同深度的缺陷時候，產生了“漂移”，那樣“入射點”在實際檢測時候就失去了意義。因此，個人想法：以"不變"應對“萬變”。既是在均勻的材質中測試入射點，將入射聲束與反射聲束盡量重合，這樣儀器測出的“實際入射點”與“理論入射點”基本一致。避免其因材質厚度不同引起的差異變化。
疑問1：對于文中提出入射點變化，個人觀點是用同一材質R50,R100,R150測出的入射點都會不一樣，有差異。因此，文中的討論僅限于用CSK-1A試塊R50測試的不同材質探頭入射點的變化，而不能擴展到普遍條件都這樣。
疑問2：關于”探頭入射點“這樣一個”小“問題在這里討論這么多實在不應該，可能是個人水平或者思考的思路存在問題，但是為了解決疑惑以及與志同道合的同行們一起學習、討論，這幾天拋出來了這些問題，因此歡迎討論。

探頭參數的測量應按照相應的標準在特定試塊指定反射體上進行測量，包括入射點！本文的探討也不是沒有意義，其從另一方面說明了探傷基本標準的重要性！

丁偉臣 發表于 2017-5-8 19:48
探頭參數的測量應按照相應的標準在特定試塊指定反射體上進行測量，包括入射點！本文的探討也不是沒有意義， ...

丁老師，您也談談您的看法?，F在討論的都是標準不適用或則對標準的理解出現分歧的地方。還望賜教。

標準問題需要從標準制定修改下手！關于探頭的參數測定必須有明確的規定，避免不必要的誤解！

閱讀這篇論文后后，我認為有句話是解決問題的關鍵，“探頭接收到的信號是所有回到晶片的聲線能的效應總和，因此探頭的聲束中心線對準圓心時，不一定能接收到最強的反射信號。”


這句話我要提兩個問題
第一個問題：“回到晶片的聲線”，具體是指多少角度的聲線？
第二個問題：“效應總和”，什么是效應總和？


我的答案
第一個問題：回到晶片的聲線應該是包括中心聲束、上擴散角某些角度的聲束、以及下擴散角某些角度聲束。這個問題，論文中沒有明確指出。
第二個問題：效應總和，應該是指上述這些聲束發生干涉后的總和。


所以要解決您的第一個問題，就要弄清楚具體是怎樣的干涉情況。但是這個干涉情況不要定量測量，要解決您的問題，從實驗方面著手更容易找到答案。