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國際著名無損檢測專家Uwe Ewert應(yīng)邀擔任2017遠東無損檢測新技術(shù)論壇學術(shù)委員會主席,同時應(yīng)邀在開幕式上作大會報告。
Uwe Ewert是射線檢測領(lǐng)域理論權(quán)威和技術(shù)開拓者,多年來引領(lǐng)射線檢測技術(shù)發(fā)展的前沿,為膠片射線照相技術(shù)的完善和數(shù)字射線照相技術(shù)的發(fā)展做出巨大貢獻,主持和參與了多個射線檢測標準(DIN、EN、ISO、ASTM)的起草。
U. Ewert簡歷
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2017-1-3 22:28 上傳
U.Ewert博士 1979年獲得洪堡特大學物理和理論化學博士學位,論文題目是《用于模擬復雜化合物的電子自旋共振譜》; 1989-1990年在美國康奈爾大學貝克實驗室(Baker Laboratory)擔任客座教授; 2000年在德國材料科學院(BAM)的“無損檢測-射線技術(shù)部”擔任主任及教授; 德國無損檢測學會射線專業(yè)委員會主席; 德國無損檢測協(xié)會(DGZFP)咨詢委員會成員; 國際焊接學會焊接接頭射線檢測學術(shù)委員會(VA)前主席; 先后擔任過國際標準委員會(ISO)、歐洲標準委員會(CEN)、美國材料學會(ASTM)的成員或主席; 2005獲得德國無損檢測協(xié)會(DGZFP)的Berthold獎; 2009年獲得德國聯(lián)邦政府的倫琴(R?ntgen)獎?wù)拢?/div> 2010年獲得美國材料協(xié)會(ASTM)國際布里格斯(Briggs)獎; 2016年獲得英國無損檢測學會(BINDT)夏普(Sharpe)獎。
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