超聲波參考試塊

只看該作者 · 2015-9-15 21:03:07

本帖最后由 yanyingjuanli 于 2015-9-15 21:06 編輯

根據(jù)EN583-2（如圖片所示），橫孔的孔徑應(yīng)該滿足D>1.5λ，那：CSK-IIIA試塊上的參考反射體φ1×6，孔徑是不是不符合該標(biāo)準(zhǔn)的？
問題2：EN583-2中，斜探頭的Deff怎么計(jì)算的，不然e>2×λ×S÷Deff怎么應(yīng)用？

胡宏宇 · 2015-9-16 15:07:21

SDH英文為side-drilled hole,中文翻譯為橫孔。

問題1:CSK-IIIA試塊，使用對象是斜探頭（橫波），不適用直探頭（縱波），而EN583-2的設(shè)計(jì)要求，是直/斜探頭都使用的，現(xiàn)在GB/T11345-2013已經(jīng)引用EN583-2。
斜探頭（橫波鋼）：1.5×（3.255÷5）=0.9765mm＜1
1.5×（3.255÷2.5）=1.953mm＞1
所以CSK-IIIA試塊，用5MHz以上的橫波斜探頭是滿足的。

問題2：Deff是晶片的有效直徑，e＞2×λ×S÷Deff是有半擴(kuò)散角公式推導(dǎo)得出的。又矩形晶片有左右和上下兩種半擴(kuò)散角，這里用的是左右半擴(kuò)散角，在由于實(shí)際晶片寬度等于有效聲源寬度，所以Deff=矩形晶片寬度。

yanyingjuanli · 2015-9-16 23:03:25

胡宏宇發(fā)表于 2015-9-16 15:07
SDH英文為side-drilled hole,中文翻譯為橫孔。

問題1:CSK-IIIA試塊，使用對象是斜探頭（橫波），不適用直 ...

謝謝解答。只不過在學(xué)校學(xué)習(xí)時，老師只說了CSK-IIIA試塊在國外是沒有的，國外都是φ3的橫通孔，但學(xué)校里面卻用2.5P8×9的橫波探頭在CSK-IIIA試塊上做DAC曲線，然后檢測對接焊縫，而且效果貌似還不錯。根據(jù)您說的，那CSK-IIIA試塊只適合5MHz及其以上的探頭使用？

胡宏宇 · 2015-9-17 05:33:32

CSK-IIIA要滿足EN583-2的設(shè)計(jì)要求檢測，用5MHz以上，學(xué)校里面卻用2.5P8×9的橫波探頭在CSK-IIIA試塊上做DAC曲線，就是不滿足EN583-2的設(shè)計(jì)要求。
本身CSK-IIIA與EN583-2沒關(guān)系的，CSK-IIIA是短橫空，遠(yuǎn)場區(qū)相當(dāng)于平底孔，而EN583-2的設(shè)計(jì)要求，SDH英文為side-drilled hole,準(zhǔn)確理解是長橫孔。
所以CSK-IIIA試塊只適合5MHz及其以上的探頭使用是不對的。

yanyingjuanli · 2015-9-17 22:08:58

胡宏宇發(fā)表于 2015-9-17 05:33
CSK-IIIA要滿足EN583-2的設(shè)計(jì)要求檢測，用5MHz以上，學(xué)校里面卻用2.5P8×9的橫波探頭在CSK-IIIA試塊上做DAC ...

我想表達(dá)的是：設(shè)計(jì)參考試塊是不是根據(jù)EN583-2來設(shè)計(jì)就可以了？是否還需要考慮其他條件，如側(cè)面或底面干涉？（因?yàn)槲野l(fā)現(xiàn)EN583-2好像沒考慮底面干涉，）如果只根據(jù)EN583-2來設(shè)計(jì)，那CSK-IIIA試塊中的反射體是否設(shè)計(jì)合理？