TOFD直通波之上的缺陷檢出問題

如圖，直通波之上有個缺陷A，此種情況缺陷A可否檢出？

假如換成下面這幅圖，這個缺陷可以檢出嗎

不可檢出，聲波到不了

如果聲場可以到達的應該可以，能做實驗驗證一下最好。

furulong 發(fā)表于 2015-3-9 12:23
如果聲場可以到達的應該可以，能做實驗驗證一下最好。

我對這個問題疑問了很久了，我們公司也有以色列的TOFD儀器，但是這種試塊倒是沒有，在工件上就不好去驗證了，我覺得工件表面如果足夠好的話，應該還是可以的。就是苦于無實物去驗證。

糟老頭子 發(fā)表于 2015-3-6 20:23
不可檢出，聲波到不了

第二幅可能到不了，第一幅探頭相對，加上聲波擴散，我覺得或多或少應該是有到達缺陷的波的

紫云煙 發(fā)表于 2015-3-9 16:36
第二幅可能到不了，第一幅探頭相對，加上聲波擴散，我覺得或多或少應該是有到達缺陷的波的 ...

理論和實際會有一定差別的，所以別人說的只是一種參考，最好做個試驗驗證。

上表面盲區(qū)，即使聲波到了，也檢不出來。

天山 發(fā)表于 2015-3-10 08:15
上表面盲區(qū)，即使聲波到了，也檢不出來。

正常情況下是有可能會掩蓋在直通波下，濾掉直通波應該還是可以看到的，都是紙上談兵了

兩種情況都檢測不到，直通波的定義是從發(fā)射探頭沿工件以最短路徑到達接收探頭的超聲波，以上兩種情況的缺陷都在直通波以外，而TOFD檢測所檢測的范圍在直通波和地面反射波之間，所以無法在有效區(qū)域內檢測到有效的缺陷信號。

應該不行