UT的縱向分辨力到底取決于什么？

    按特壓《超聲檢測》教材（2008版）的觀點，UT的縱向分辨力，似乎了取決于聲脈沖寬度，如該書第第102頁有這樣敘述: “…阻尼塊對壓電晶片的振動起阻尼作用，一是可以使晶片起振后盡快停下來，從而使脈沖寬度減小，分辨力提高；…”; 再如，該書第127頁有這樣敘述: “…檢測靈敏度高時，脈沖寬度會增大，使得分辨力變差。”

      記得在2012年9-10月份，遠東網對“分辨力” 展開過討論，梁金昆寫過《理論上超聲遠場的縱向分辨力(修改稿)》等日志，里面提出了: 聲軸方向上A和B兩點可分辨聲程差x至少(極限)應為半波長。標稱頻率f值越高，λ越小，可分辨聲程差x越小，縱向分辨力越高---越好。

    時間過去一年多了，以上觀點，孰對孰錯？或者二者各在特定情況下都對？希望感性味的壇友，繼續討論。

基于帶寬或阻尼的超聲探頭的分類和用途（圖31）如下：
        窄帶寬（15%~30%）探頭—適于檢測；
        中帶寬（31%~75%）探頭—適于檢測和定量；
        寬帶寬（76%~110%）探頭—適于定量；


一般對于角度固定的靜態探頭來說，脈沖寬度對其軸向分辨力有直接影響。軸向分辨力是超聲波分辨沿聲束軸線相鄰兩缺陷的最小距離能力。對于良好的軸向分辨力，相鄰兩反射體所產生的峰值應比峰谷差大于6dB。
軸向分辨力計算公式為：
                       ?z= (ν x?τ_(-20dB))/2               
其中：
?z—相鄰兩缺陷的最小距離；
v—工件中聲速（mm/us）；
    〖?τ〗_(-20dB) —脈沖寬度us（聲脈沖寬度）。

楓林晚 發表于 2013-12-27 22:24
對于教材102頁所敘述的是阻尼塊對晶片振動的影響（主要是對脈沖寬度和分辨力的影響），相對比的應該是沒有 ...

我認同樓上的觀點：樓主所說的兩種情況并不矛盾，且都是正確的。
至于梁老所說的“聲軸方向上A和B兩點可分辨聲程差x至少(極限)應為半波長”，我覺得這是在檢波模式下（全波，聲波的正值和負值被折疊在一起顯示）的結論，如果開啟射頻波（未檢波，聲波有正值和負值），縱向分辨率極限可能達到1/4波長。

來學習了，謝謝分享

謝謝上面各位朋友，熱情參與討論！對這些意見怎么梳理，即分辨力到底決定于脈沖寬度，還是頻率？還是可以多因素并列？我需要個學習消化過程，歡迎繼續討論。祝各位新年好！

我想:對于窄脈沖探頭(-20dB不超過兩個周期，同側相鄰峰的阻尼系數很大)，時間分辨力通常只有一個周期T。而周期T是頻率f的倒數，所以，我認為對窄脈沖寬頻帶探頭，其縱向分辨力，可能只與標稱頻率(此處寫標稱頻率，特指高頻，以與重復頻率相區別)有關，或者說，只取決于(標稱)頻率;而對于常規脈沖探頭(峰數通常有5-7個，同側相鄰峰阻尼系數很小，高低差別不大)，其縱向分辨力，可能只與脈沖寬度有關。
在網上搜索了一下，醫學超聲的文章，多數認為:縱向分辨力，只與(標稱)頻率有關。
以上，當否？缺少權威試驗和認可。希望繼續討論。

我同意楓林晚的觀點，頻率和能量對分辨力都有影響。

謝謝劉恩凱先生！謝謝你列出了縱向分辯力公式    ?z。因為脈沖寬度?τ和低，中，高阻尼有關，所以對高阻尼持續時間為1-1.5周期的窄脈沖，說它們縱向分辯力僅決定于標稱頻率f，我認為，也可以;但不如對一切探頭而言，縱向分辯力僅決定于-20dB脈沖寬度，準確。這樣認識，可以么？

來學習了,謝謝各位