UT探球形底面工件，無底波能證明產品OK嗎？

請教，UT在探球形底面工件時，無底波能證明工件是合格的嗎？另外，非平面底用直探頭探傷來評定工件好壞是否有意義，請教。
探頭用的2M的直探頭，材質為不銹鋼，晶粒度大小約4級。

304L 奧氏體不銹鋼聲衰減要比其它奧氏體不銹鋼要小，你基準,靈敏度如何確定的？如果有相應對比試塊，測一下H=200mm底面或人工缺陷回波能否可見，從球面和端面進行檢測。（不知道球面探頭耦合如何，必要時采用小直徑或凹球面探頭或加曲面楔塊）聲程350處可能沒有底波，存在檢測靈敏度不足造成缺陷漏檢的問題。，直徑較小的話，采用水浸探傷，耦合情況要好很多，但仍然面臨聲衰減較大，信噪比不足等問題。
304如果不可檢，其它材料更難檢了

產品 304L  固溶處理

不可評定產品質量。

楓林晚 發表于 2013-10-14 09:19
樓主這個工件徑向檢測應該沒有什么問題，軸向檢測也就是端面和圓球面檢測面臨的穿透力和信噪比不足以及干涉 ...

謝謝各位的回答，看來還是不能作為評定依據。

另外假如在H=200 以內有缺陷，不是還是有缺陷發射波的嗎？就是靈敏度問題了？

luolang1314 發表于 2013-10-14 06:58
304L 奧氏體不銹鋼聲衰減要比其它奧氏體不銹鋼要小，你基準,靈敏度如何確定的？如果有相應對比試塊，測一下 ...

此處缺陷漏檢，會產生什么的缺陷漏檢呢，粗晶？靈敏度無法校準導致小缺陷難以發現嗎

粗晶不屬于宏觀缺陷，屬于冶金缺陷，不是超聲波檢測的一般常見缺陷；缺陷取向等的確會影響檢出，但是粗晶材料聲衰減大，檢測靈敏度不足會導致在大聲程處無法發現常規缺陷。

楓林晚 發表于 2013-10-14 22:10
不一定就是靈敏度的問題，有可能是缺陷取向的問題，也有可能是你探頭選擇不正確。也不一定就只能檢測200m ...

爭議就是上半部分（圓柱體部分）缺陷檢測應該是可以，球面部分就是不可評定的。

luolang1314 發表于 2013-10-15 06:45
粗晶不屬于宏觀缺陷，屬于冶金缺陷，不是超聲波檢測的一般常見缺陷；缺陷取向等的確會影響檢出，但是粗晶材 ...

考慮到缺陷方向。先前大型的鍛件都是粗車一端面進行初探的，外圓未進行檢測，這樣的話，嚴格講起來是不是也是不符合要求的？、

探傷前,了解工件的晶粒走向,盡量選擇探頭聲束線與柱狀晶平行,這是檢測關鍵.