關(guān)于曲面檢測(cè)的耦合補(bǔ)償

4730說檢測(cè)面是曲面時(shí)，應(yīng)采用CSⅢ標(biāo)準(zhǔn)試塊來測(cè)定由于曲率不同而引起的耦合損失。
例如，我檢測(cè)Φ200的軸，那補(bǔ)償它的曲面耦合損失，具體應(yīng)該如何操作，謝謝

楓林晚 發(fā)表于 2013-12-18 08:30
個(gè)人對(duì)CSIII試塊的功用表示疑惑。檢測(cè)有圓柱面的鍛件一般在CSI試塊上做好DAC，然后測(cè)試曲率補(bǔ)償。問題是CSI ...

此處的CSIII試塊用于在于，先用CSI型試塊調(diào)靈敏度，再用厚度差不多的CSIII，看低波降低多少，在適當(dāng)補(bǔ)償。原在在于CSIII試塊補(bǔ)償?shù)氖前l(fā)射入工件后的能量大致一樣。而缺陷一般用一次低波之前的波形計(jì)算，補(bǔ)償之后對(duì)于缺陷的定量影響不大。而軸型工件的兩曲面，與CSIII一曲面，不同之處，低波的高低有關(guān)，與缺陷的定量無關(guān)

沒做過 ，不知道。

18dB （API）

{:soso_e100:}

采用高級(jí)仿真軟件（例如CIVA）算一下！

找出75-0，75-100兩試塊，使探頭耦合，最好有壓塊，比較一次底波的分貝差值，就是曲率補(bǔ)償值。
"R為工件曲率半徑的0.9~1.5倍”的提法和5.1.6.2 C)的說法大體一樣，我認(rèn)為是錯(cuò)的。剛好與ASME相反。

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{:soso_e100:}來學(xué)習(xí)了