用大平底對(duì)鍛件單個(gè)缺陷定當(dāng)?shù)牡撞ɑ鶞?zhǔn)點(diǎn)選取

鍛件檢測(cè)中，當(dāng)缺陷聲程大于探頭3倍近場(chǎng)時(shí)，可利用底波調(diào)節(jié)靈敏度對(duì)缺陷進(jìn)行定量，但由于鍛件不同部位的材質(zhì)衰減差異會(huì)造成底波高度不一，因此請(qǐng)教：當(dāng)對(duì)一個(gè)單個(gè)缺陷進(jìn)行定量時(shí)，調(diào)節(jié)靈敏度的底波選取點(diǎn)是應(yīng)該在最接近缺陷的工件完好處還是在整個(gè)鍛件的底波回波最高處呢？

很好的問(wèn)題，我也想了解一下，幫你頂一下。{:soso_e179:}

不同部位的衰減所導(dǎo)致的波高的差別應(yīng)該不會(huì)很大吧？是否選擇的探頭頻率太高了？

調(diào)節(jié)靈敏度的底波選取點(diǎn)應(yīng)該在最接近缺陷的工件完好處!

非常感謝老師的指導(dǎo)，

{:soso_e163:}

不同的標(biāo)準(zhǔn)有不同的規(guī)定吧。。。
JB系列的標(biāo)準(zhǔn)是在無(wú)缺陷的完好區(qū)域測(cè)試，但未具體指定是距缺陷最近處還是其他的完好區(qū)域；
GB/T6402-2008--同樣是無(wú)缺陷處的可以代表完好鍛件材質(zhì)處的底波以基準(zhǔn)，同樣也沒(méi)明確操作方法，位置要求.

國(guó)外的大致翻了下，

---ASTM，EN提到了DGS法，類似于底波法，這個(gè)方法需有探頭廠提供的DGS曲線，但是對(duì)于在何處調(diào)底波取得參考當(dāng)量也沒(méi)有明確；
---JIS Z2344提了底波法，但未明確具體的操作方法。

歡迎大家補(bǔ)充！！！

個(gè)人同意丁工的說(shuō)法。因?yàn)檫@樣可以比較準(zhǔn)確反映缺陷的當(dāng)量。

JB/T4730.3-2005雖然提了傳輸衰減的測(cè)量方法，沒(méi)有規(guī)定同一鍛件在同一檢測(cè)面上衰減系數(shù)的允許波動(dòng)范圍，也沒(méi)有對(duì)鍛件以底波法調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度時(shí)的具體方法，部位要求作出說(shuō)明。如果一個(gè)鍛件比較大，晶粒組織并不均勻，且缺陷正好處于晶粒組織相對(duì)較大處，如果以完好細(xì)組織處的底波調(diào)節(jié)基準(zhǔn)靈敏度，則實(shí)際的缺陷當(dāng)量有可能被低估。建議標(biāo)準(zhǔn)對(duì)于這一方法進(jìn)行明確的說(shuō)明。

只要不超過(guò)2dB就不用考慮

學(xué)習(xí)了。。。謝謝

{:soso_e179:}