標(biāo)準(zhǔn)太深?yuàn)W，一個(gè)困擾我的疑惑

JB/T5000.15-2007術(shù)語(yǔ)和定義中規(guī)定：
單個(gè)缺陷：間距大于50mm，當(dāng)量直徑不小于起始記錄當(dāng)量的缺陷。
密集區(qū)缺陷：在熒光屏掃描線相當(dāng)于50mm聲程范圍內(nèi)同時(shí)有五個(gè)或五個(gè)以上缺陷反射信號(hào)；或在50mm*50mm檢測(cè)面上同一深度內(nèi)有五個(gè)或五個(gè)以上缺陷反射信號(hào)。


1.那么以II級(jí)為例子，假如有3個(gè)缺陷，深度在110~130mm范圍內(nèi)，當(dāng)量在2~3mm之間，屬于需要記錄的缺陷，但間距小于50mm，那這3個(gè)缺陷不滿足單個(gè)缺陷也不滿足密集區(qū)缺陷定義。。屬于何種缺陷？如果說(shuō)是多個(gè)缺陷，又如何質(zhì)量分級(jí)？
2.再假設(shè)，有兩對(duì)缺陷，每對(duì)為3個(gè)（每對(duì)50mm*50mm檢測(cè)面），深度在110~130mm范圍內(nèi)，當(dāng)量在2~3mm之間。兩對(duì)缺陷間距如圖，又作何判定？

這個(gè)問(wèn)題提的好。評(píng)為2級(jí)的。

{:soso_e100:}

{:soso_e163:}

原來(lái)記得蘇州UT考試培訓(xùn)時(shí)，還有另外一類缺陷：分散性缺陷，就是對(duì)樓主所說(shuō)這一類缺陷；但在4730中也沒(méi)有定義，好象是姚志忠老師提出來(lái)的

是不是按單個(gè)， 然后把缺陷換算成面積但檢測(cè)面的百分比比來(lái)評(píng)定？

{:soso_e179:}