珍珠的無(wú)損檢測(cè)

摘 要 采用X射線和光學(xué)相干層析成像技術(shù)，可以對(duì)珍珠內(nèi)部結(jié)構(gòu)進(jìn)行無(wú)損傷探測(cè)。經(jīng)驗(yàn)證，這兩種新方法具有方便、直觀、快速、準(zhǔn)確度高等特點(diǎn)。關(guān)鍵詞 珍珠 無(wú)損檢測(cè) 新方法
眾所周知，人們欣賞珍珠主要是從外觀上看珍珠的外在美，如看珍珠的顏色、光澤、圓度、規(guī)格大小以及光潔度。如果想深入了解珍珠的內(nèi)部結(jié)構(gòu)，通常則要通過(guò)打孔或解剖的方式才能看到。
隨著全球高新技術(shù)的迅猛發(fā)展，使得X射線技術(shù)和光學(xué)相干層析成像技術(shù)的新成果得以延伸進(jìn)入珍珠檢測(cè)領(lǐng)域。筆者經(jīng)過(guò)反復(fù)的研究和驗(yàn)證證實(shí)，采用X射線和光學(xué)相干層析成像技術(shù)，可以對(duì)珍珠內(nèi)部結(jié)構(gòu)進(jìn)行無(wú)損傷探測(cè)，從而解決了長(zhǎng)期以來(lái)“珍珠鑒定和定量檢測(cè)”上的疑難問(wèn)題。為此，筆者把這兩種新方法增補(bǔ)進(jìn)了國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)（GB/T18781-2008《珍珠分級(jí)》）中。
一、 新方法介紹
1.X射線法
1.1方法原理
采用X射線透視技術(shù)拍攝得到直觀的珍珠內(nèi)部結(jié)構(gòu)圖像，通過(guò)分析珍珠內(nèi)部組成特征，對(duì)珍珠進(jìn)行定性分析，確定有核珍珠與無(wú)核珍珠，利用計(jì)算機(jī)技術(shù)確定被檢樣品的珠層厚度。
1.2測(cè)量?jī)x器
X射線儀
1.3珠層厚度檢測(cè)操作步驟
將被檢樣品放入X射線儀載物臺(tái)，拍攝被檢樣品圖像，利用計(jì)算機(jī)技術(shù)確定被檢樣品的珠層厚度。至少選擇兩個(gè)穿過(guò)珍珠幾何中心的剖面方向進(jìn)行測(cè)量，取其平均值，確定珠層厚度級(jí)別。
2.光學(xué)相干層析法
2.1方法原理
利用光學(xué)干涉原理，使珍珠珠層內(nèi)部的背向散射光與參考光發(fā)生干涉，通過(guò)探測(cè)干涉信號(hào)來(lái)檢測(cè)有核珍珠的珠層厚度。同時(shí)，通過(guò)掃描可以得到直觀的珠層圖像對(duì)珍珠進(jìn)行定性分析。
2.2測(cè)量?jī)x器
光學(xué)相干層析（OCT）儀
2.3珠層厚度檢測(cè)操作步驟
將被檢樣品放置在樣品臺(tái)上，調(diào)焦，利用光學(xué)相干層析系統(tǒng)獲得珠層圖像，確定被檢樣品的珠層厚度。至少選擇兩個(gè)穿過(guò)珍珠幾何中心的掃描剖面進(jìn)行測(cè)量，獲得每個(gè)掃描剖面上珍珠層的3個(gè)最大厚度和3個(gè)最小厚度，取其平均值，確定珠層厚度級(jí)別。
二、新方法成像特點(diǎn)
1.采用X射線法檢測(cè)，可直觀、快速看到珍珠內(nèi)部結(jié)構(gòu)照片全圖圖像。
2.采用光學(xué)相干層析法檢測(cè)可方便、直觀、快速看到珍珠內(nèi)部結(jié)構(gòu)照片局部圖像。
3.兩種新方法均可根據(jù)珍珠內(nèi)部結(jié)構(gòu)圖片成像特征，對(duì)有核珍珠與無(wú)核珍珠進(jìn)行定性鑒定。
4.利用計(jì)算機(jī)技術(shù)可確定珠層厚度，兩種新方法準(zhǔn)確度≤0.02mm。
三、結(jié)語(yǔ)
采用這兩種新方法檢測(cè)珍珠，具有無(wú)損、方便、直觀、快速、準(zhǔn)確度高等特點(diǎn)，值得推廣應(yīng)用。

有核珍珠（已打孔）內(nèi)部結(jié)構(gòu)圖像（X射線法）

有核珍珠內(nèi)部結(jié)構(gòu)圖像（光學(xué)相干層析法）

無(wú)核淡水珍珠內(nèi)部結(jié)構(gòu)圖像（光學(xué)相干層析法）

有核海水珍珠內(nèi)部結(jié)構(gòu)圖像（光學(xué)相干層析法）

有核海水珍珠內(nèi)部結(jié)構(gòu)圖像（光學(xué)相干層析法）

有核海水珍珠內(nèi)部結(jié)構(gòu)圖像（光學(xué)相干層析法）

（作者單位：廣西產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)院）