如何理解JB/T4730.10 對比試塊厚度分區？

   NB/T47013.10-2010（JB/T4730.10）規定，TOFD對比試塊中反射體的形狀、尺寸、數量至少應滿足附錄B（規范性附錄）的規定。而在該附錄中第B.3 c）這樣描述：在每個厚度分區包含2個尖角槽，其寬度最大值為W（見表B.2），長度不小于40mm；或為側孔，其直徑最大值為Dd（見表B.2），長度最小值L和深度有關，見表B.4。    我的問題是：“每個厚度分區”怎么理解？
一、按標準表1中檢測分區數理解共有5個厚度分區：50mm以下、50-100mm、100-200mm、200-300mm、300-400mm
    如果是這樣，對于厚度為62mm的對比試塊，尖角槽或側孔的加工位置深度為0-50mm的1/4處即12.5mm處、3/4處即37.5mm處各加工一個反射體，50-62mm的1/4處即53mm處、3/4處即59mm處各加工一個反射體，共4個。
    如此一來，加上B.3的a）、b）款要求，該試塊需要加工6個人工反射體。
二、按標準表1中的深度范圍來理解，對于厚度為62mm的對比試塊，尖角槽或側孔的加工位置深度為0~2/5T（0~24.8mm）、2/5T~T（24.8~62mm），則在24.8mm的1/4（6.2mm）處、3/4（18.6mm）處以及62mm的1/4（34.1mm）處、3/4（52.7mm）處各加工4個人反射體。
    如此一來，加上B.3的a）、b）款要求，該試塊也需要加工6個人工反射體。
    以上哪種理解對？還是有別的理解？請各位專家指導。

只有人看，沒有人回答嗎？

國內對TOFD試塊的認識有一點亂，包括對比試塊和模擬試塊，都是如此。
關于對比試塊的厚度，厚一點或薄一點，都是可以用的?？椎奈恢?，在24mm、25mm，或是28mm，也都可以用的。各項尺寸并不要求那么精確，只要能有效地進行校準就可以。

首先，感謝強總！另外，請教：
    前幾天我在設計T=62mm的平面對比試塊時，按附錄B.3，設計了3個同一側的側孔：
a  15.5mm處一個長45mm的Φ2.5mm側孔；
b  31.0mm處一個長60mm的Φ3.0mm側孔；
c  46.5mm處一個長75mm的Φ4.5mm側孔。
另外一側4mm處設計了一個長300mm的Φ2.0mm側孔
及中心設計了一個長50mm寬0.5mm深2mm的開口槽。

這樣的設計符合要求嗎？

這樣的話，a、b、c側孔無論從哪一面來探測，深度是一樣的：
a  15.5mm處一個長45mm的Φ2.5mm側孔；則從另一面探其深度為62-15.5=46.5mm同c。
b  31.0mm處一個長60mm的Φ3.0mm側孔；則從另一面探其深度不變為31.0mm。
c  46.5mm處一個長75mm的Φ4.5mm側孔。則從另一面探其深度為62-46.5=15.5mm同a。
這樣是否滿足要求？是否合理？

如下圖：

Xcb先生提的問題，恰是JB/T4730.10標準的一個疏漏，提得好！。因為該標準沒有任何一個地方標明“厚度分區”怎么規定，按表1第一列“工件厚度”來理解，它分了七個區；表1第二列標的是“檢測分區數”，也不是厚度分區數，按它來理解是五個分區。其它，同意強總意見。另外，我也希望讀者朋友多就工作中遇到的問題或對某篇博文、帖子發表些意見，對與錯，都沒什么關系。

謝謝李先生！
同時希望更多的專家學者參與討論！
期待ing......

強總說的對，深度精度不是要絕對要精確，在標準規定附近好測量加工就行！

在TOFD校驗中，除了靈敏度設定外，應更加檢測級別要求進行相應的校驗或驗證，如：
1、采用標準試塊，通過已知精確厚度進行深度校準，一般薄板要求進度小于0.5mm；
2、采用對比試塊（與被檢測厚度相當，具體按照被執行標準規定）進行掃查驗證上下表面盲區、分區的覆蓋和相應孔或槽等參考反射體的信號；
3、根據標準要求，按照要求對模擬試塊進行掃查，通過要求顯示最小缺陷（主要按照ASME CASE 2235）進行缺陷檢出能力驗證。