TOFD直通波之上的缺陷檢出問題

如圖，直通波之上有個(gè)缺陷A，此種情況缺陷A可否檢出？

假如換成下面這幅圖，這個(gè)缺陷可以檢出嗎

不可檢出，聲波到不了

如果聲場(chǎng)可以到達(dá)的應(yīng)該可以，能做實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證一下最好。

furulong 發(fā)表于 2015-3-9 12:23
如果聲場(chǎng)可以到達(dá)的應(yīng)該可以，能做實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證一下最好。

我對(duì)這個(gè)問題疑問了很久了，我們公司也有以色列的TOFD儀器，但是這種試塊倒是沒有，在工件上就不好去驗(yàn)證了，我覺得工件表面如果足夠好的話，應(yīng)該還是可以的。就是苦于無實(shí)物去驗(yàn)證。

糟老頭子 發(fā)表于 2015-3-6 20:23
不可檢出，聲波到不了

第二幅可能到不了，第一幅探頭相對(duì)，加上聲波擴(kuò)散，我覺得或多或少應(yīng)該是有到達(dá)缺陷的波的

紫云煙 發(fā)表于 2015-3-9 16:36
第二幅可能到不了，第一幅探頭相對(duì)，加上聲波擴(kuò)散，我覺得或多或少應(yīng)該是有到達(dá)缺陷的波的 ...

理論和實(shí)際會(huì)有一定差別的，所以別人說的只是一種參考，最好做個(gè)試驗(yàn)驗(yàn)證。

上表面盲區(qū)，即使聲波到了，也檢不出來。

天山 發(fā)表于 2015-3-10 08:15
上表面盲區(qū)，即使聲波到了，也檢不出來。

正常情況下是有可能會(huì)掩蓋在直通波下，濾掉直通波應(yīng)該還是可以看到的，都是紙上談兵了

兩種情況都檢測(cè)不到，直通波的定義是從發(fā)射探頭沿工件以最短路徑到達(dá)接收探頭的超聲波，以上兩種情況的缺陷都在直通波以外，而TOFD檢測(cè)所檢測(cè)的范圍在直通波和地面反射波之間，所以無法在有效區(qū)域內(nèi)檢測(cè)到有效的缺陷信號(hào)。

應(yīng)該不行