超聲探頭入射點“變化”來回答其“入射點”不隨材質(zhì)而...

附件內(nèi)容為一篇關(guān)于常規(guī)探頭入射點隨材質(zhì)變化而變化的探討。內(nèi)容觀點個人贊同，同時也學習了。但是我想討論的是何為實際檢測過程中真正需要的“入射點”（前沿）。論文中提出的“理論入射點”是不隨材質(zhì)變化的，通過試驗測試，基于聲場特征，測試出的“實際入射點”隨材質(zhì)變化而變化。針對文章提出的“實際入射點”變化，個人人為是因為測試方法引起的變化。材質(zhì)變化，尤其粗晶粒材質(zhì)，會引起聲束的偏轉(zhuǎn)，而設備在CSK-1A試塊上測試時是接收到R100半圓弧的反射回波，而非探頭入射波的在檢測表面的“起點”。這樣入射波和反射波存在偏差，而儀器是接收反射波，且根據(jù)反射波計算出的入射點。所以，文中提出“實際入射點”是變化的。而在實際檢測時候，同一材料，不同厚度、深度導致的聲束偏轉(zhuǎn)程度是不同的，R50測量一個數(shù)值，R100測量有一個數(shù)值，這樣導致“入射點”對于同一種材質(zhì)檢測不同深度的缺陷時候，產(chǎn)生了“漂移”，那樣“入射點”在實際檢測時候就失去了意義。因此，個人想法：以"不變"應對“萬變”。既是在均勻的材質(zhì)中測試入射點，將入射聲束與反射聲束盡量重合，這樣儀器測出的“實際入射點”與“理論入射點”基本一致。避免其因材質(zhì)厚度不同引起的差異變化。
疑問1：對于文中提出入射點變化，個人觀點是用同一材質(zhì)R50,R100,R150測出的入射點都會不一樣，有差異。因此，文中的討論僅限于用CSK-1A試塊R50測試的不同材質(zhì)探頭入射點的變化，而不能擴展到普遍條件都這樣。
疑問2：關(guān)于”探頭入射點“這樣一個”小“問題在這里討論這么多實在不應該，可能是個人水平或者思考的思路存在問題，但是為了解決疑惑以及與志同道合的同行們一起學習、討論，這幾天拋出來了這些問題，因此歡迎討論。

閱讀這篇論文后后，我認為有句話是解決問題的關(guān)鍵，“探頭接收到的信號是所有回到晶片的聲線能的效應總和，因此探頭的聲束中心線對準圓心時，不一定能接收到最強的反射信號。”


這句話我要提兩個問題
第一個問題：“回到晶片的聲線”，具體是指多少角度的聲線？
第二個問題：“效應總和”，什么是效應總和？


我的答案
第一個問題：回到晶片的聲線應該是包括中心聲束、上擴散角某些角度的聲束、以及下擴散角某些角度聲束。這個問題，論文中沒有明確指出。
第二個問題：效應總和，應該是指上述這些聲束發(fā)生干涉后的總和。


所以要解決您的第一個問題，就要弄清楚具體是怎樣的干涉情況。但是這個干涉情況不要定量測量，要解決您的問題，從實驗方面著手更容易找到答案。

標準問題需要從標準制定修改下手！關(guān)于探頭的參數(shù)測定必須有明確的規(guī)定，避免不必要的誤解！

丁偉臣 發(fā)表于 2017-5-8 19:48
探頭參數(shù)的測量應按照相應的標準在特定試塊指定反射體上進行測量，包括入射點！本文的探討也不是沒有意義， ...

丁老師，您也談談您的看法。現(xiàn)在討論的都是標準不適用或則對標準的理解出現(xiàn)分歧的地方。還望賜教。

探頭參數(shù)的測量應按照相應的標準在特定試塊指定反射體上進行測量，包括入射點！本文的探討也不是沒有意義，其從另一方面說明了探傷基本標準的重要性！