超聲波參考試塊

根據(jù)EN583-2（如圖片所示），橫孔的孔徑應(yīng)該滿足D>1.5λ，那：CSK-IIIA試塊上的參考反射體φ1×6，孔徑是不是不符合該標(biāo)準(zhǔn)的？
問(wèn)題2：EN583-2中，斜探頭的Deff怎么計(jì)算的，不然e>2×λ×S÷Deff怎么應(yīng)用？

提的好

引申一下：由于NB/T 47013.3-2015推薦采用CSK-2A 試塊（fai 2長(zhǎng)橫孔）針對(duì)6-200mm厚工件焊縫進(jìn)行檢測(cè)，由于當(dāng)下大部分企業(yè)均有CSK-3A試塊，而較少用到CSK-2A試塊，雖然標(biāo)準(zhǔn)允許當(dāng)工件厚度在6-120mm采用3A試塊按照附錄進(jìn)行檢測(cè)，但是很多制造企業(yè)擔(dān)心靈敏度不一致，會(huì)引起結(jié)果評(píng)定出現(xiàn)一定分歧。我的問(wèn)題是理論上相同待檢工件厚度情況下這兩種試塊掃查靈敏度有什么不同？誰(shuí)高？高多少？結(jié)果評(píng)定會(huì)有影響嗎？如何采用試驗(yàn)的方式驗(yàn)證自己的想法？另外，采用3A試塊能否通過(guò)補(bǔ)償或降低增益，使得掃查靈敏度不低于（或者相等于）2A試塊調(diào)節(jié)的靈敏度？

博大精深！學(xué)習(xí)

這是一個(gè)有趣的話題。支持樓主。

Xueliang 發(fā)表于 2015-9-18 17:28
什么學(xué)校？瞎搞的

學(xué)校不差，應(yīng)該是我學(xué)藝不精

王緒軍 發(fā)表于 2015-9-18 23:43
CSK-IIIA試塊中的Φ1*6短橫孔是根據(jù)Φ2平底孔計(jì)算出來(lái)的！是中國(guó)的前輩在超聲波檢測(cè)領(lǐng)域的發(fā)明創(chuàng)造，已經(jīng)使 ...

謝謝解答。那是否可以理解成，遠(yuǎn)場(chǎng)中，CSK-IIIA試塊上的φ1×6短橫孔相當(dāng)于平底孔φ2？

CSK-IIIA試塊中的Φ1*6短橫孔是根據(jù)Φ2平底孔計(jì)算出來(lái)的！是中國(guó)的前輩在超聲波檢測(cè)領(lǐng)域的發(fā)明創(chuàng)造，已經(jīng)使用了幾十年，實(shí)際證明效果不錯(cuò)。橫孔和短橫孔不是一個(gè)概念。

什么學(xué)校？瞎搞的

胡宏宇 發(fā)表于 2015-9-17 05:33
CSK-IIIA要滿足EN583-2的設(shè)計(jì)要求檢測(cè)，用5MHz以上，學(xué)校里面卻用2.5P8×9的橫波探頭在CSK-IIIA試塊上做DAC ...

我想表達(dá)的是：設(shè)計(jì)參考試塊是不是根據(jù)EN583-2來(lái)設(shè)計(jì)就可以了？是否還需要考慮其他條件，如側(cè)面或底面干涉？（因?yàn)槲野l(fā)現(xiàn)EN583-2好像沒(méi)考慮底面干涉，）如果只根據(jù)EN583-2來(lái)設(shè)計(jì)，那CSK-IIIA試塊中的反射體是否設(shè)計(jì)合理？