珍珠的無損檢測

摘 要 采用X射線和光學相干層析成像技術，可以對珍珠內(nèi)部結構進行無損傷探測。經(jīng)驗證，這兩種新方法具有方便、直觀、快速、準確度高等特點。關鍵詞 珍珠 無損檢測 新方法
眾所周知，人們欣賞珍珠主要是從外觀上看珍珠的外在美，如看珍珠的顏色、光澤、圓度、規(guī)格大小以及光潔度。如果想深入了解珍珠的內(nèi)部結構，通常則要通過打孔或解剖的方式才能看到。
隨著全球高新技術的迅猛發(fā)展，使得X射線技術和光學相干層析成像技術的新成果得以延伸進入珍珠檢測領域。筆者經(jīng)過反復的研究和驗證證實，采用X射線和光學相干層析成像技術，可以對珍珠內(nèi)部結構進行無損傷探測，從而解決了長期以來“珍珠鑒定和定量檢測”上的疑難問題。為此，筆者把這兩種新方法增補進了國家標準（GB/T18781-2008《珍珠分級》）中。
一、 新方法介紹
1.X射線法
1.1方法原理
采用X射線透視技術拍攝得到直觀的珍珠內(nèi)部結構圖像，通過分析珍珠內(nèi)部組成特征，對珍珠進行定性分析，確定有核珍珠與無核珍珠，利用計算機技術確定被檢樣品的珠層厚度。
1.2測量儀器
X射線儀
1.3珠層厚度檢測操作步驟
將被檢樣品放入X射線儀載物臺，拍攝被檢樣品圖像，利用計算機技術確定被檢樣品的珠層厚度。至少選擇兩個穿過珍珠幾何中心的剖面方向進行測量，取其平均值，確定珠層厚度級別。
2.光學相干層析法
2.1方法原理
利用光學干涉原理，使珍珠珠層內(nèi)部的背向散射光與參考光發(fā)生干涉，通過探測干涉信號來檢測有核珍珠的珠層厚度。同時，通過掃描可以得到直觀的珠層圖像對珍珠進行定性分析。
2.2測量儀器
光學相干層析（OCT）儀
2.3珠層厚度檢測操作步驟
將被檢樣品放置在樣品臺上，調(diào)焦，利用光學相干層析系統(tǒng)獲得珠層圖像，確定被檢樣品的珠層厚度。至少選擇兩個穿過珍珠幾何中心的掃描剖面進行測量，獲得每個掃描剖面上珍珠層的3個最大厚度和3個最小厚度，取其平均值，確定珠層厚度級別。
二、新方法成像特點
1.采用X射線法檢測，可直觀、快速看到珍珠內(nèi)部結構照片全圖圖像。
2.采用光學相干層析法檢測可方便、直觀、快速看到珍珠內(nèi)部結構照片局部圖像。
3.兩種新方法均可根據(jù)珍珠內(nèi)部結構圖片成像特征，對有核珍珠與無核珍珠進行定性鑒定。
4.利用計算機技術可確定珠層厚度，兩種新方法準確度≤0.02mm。
三、結語
采用這兩種新方法檢測珍珠，具有無損、方便、直觀、快速、準確度高等特點，值得推廣應用。

有核珍珠（已打孔）內(nèi)部結構圖像（X射線法）

有核珍珠內(nèi)部結構圖像（光學相干層析法）

無核淡水珍珠內(nèi)部結構圖像（光學相干層析法）

有核海水珍珠內(nèi)部結構圖像（光學相干層析法）

有核海水珍珠內(nèi)部結構圖像（光學相干層析法）

有核海水珍珠內(nèi)部結構圖像（光學相干層析法）

（作者單位：廣西產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗院）