超聲波參考試塊

根據EN583-2（如圖片所示），橫孔的孔徑應該滿足D>1.5λ，那：CSK-IIIA試塊上的參考反射體φ1×6，孔徑是不是不符合該標準的？
問題2：EN583-2中，斜探頭的Deff怎么計算的，不然e>2×λ×S÷Deff怎么應用？

SDH英文為side-drilled hole,中文翻譯為橫孔。

問題1:CSK-IIIA試塊，使用對象是斜探頭（橫波），不適用直探頭（縱波），而EN583-2的設計要求，是直/斜探頭都使用的，現在GB/T11345-2013已經引用EN583-2。
斜探頭（橫波 鋼）：1.5×（3.255÷5）=0.9765mm＜1
                              1.5×（3.255÷2.5）=1.953mm＞1
所以CSK-IIIA試塊，用5MHz以上的橫波斜探頭是滿足的。


問題2：Deff是晶片的有效直徑，e＞2×λ×S÷Deff是有半擴散角公式推導得出的。又矩形晶片有左右和上下兩種半擴散角，這里用的是左右半擴散角，在由于實際晶片寬度等于有效聲源寬度，所以Deff=矩形晶片寬度。

胡宏宇 發表于 2015-9-16 15:07
SDH英文為side-drilled hole,中文翻譯為橫孔。

問題1:CSK-IIIA試塊，使用對象是斜探頭（橫波），不適用直 ...

謝謝解答。只不過在學校學習時，老師只說了CSK-IIIA試塊在國外是沒有的，國外都是φ3的橫通孔，但學校里面卻用2.5P8×9的橫波探頭在CSK-IIIA試塊上做DAC曲線，然后檢測對接焊縫，而且效果貌似還不錯。根據您說的，那CSK-IIIA試塊只適合5MHz及其以上的探頭使用？

CSK-IIIA要滿足EN583-2的設計要求檢測，用5MHz以上，學校里面卻用2.5P8×9的橫波探頭在CSK-IIIA試塊上做DAC曲線，就是不滿足EN583-2的設計要求。
本身CSK-IIIA與EN583-2沒關系的，CSK-IIIA是短橫空，遠場區相當于平底孔，而EN583-2的設計要求，SDH英文為side-drilled hole,準確理解是長橫孔。
所以CSK-IIIA試塊只適合5MHz及其以上的探頭使用是不對的。

胡宏宇 發表于 2015-9-17 05:33
CSK-IIIA要滿足EN583-2的設計要求檢測，用5MHz以上，學校里面卻用2.5P8×9的橫波探頭在CSK-IIIA試塊上做DAC ...

我想表達的是：設計參考試塊是不是根據EN583-2來設計就可以了？是否還需要考慮其他條件，如側面或底面干涉？（因為我發現EN583-2好像沒考慮底面干涉，）如果只根據EN583-2來設計，那CSK-IIIA試塊中的反射體是否設計合理？

什么學校？瞎搞的

CSK-IIIA試塊中的Φ1*6短橫孔是根據Φ2平底孔計算出來的！是中國的前輩在超聲波檢測領域的發明創造，已經使用了幾十年，實際證明效果不錯。橫孔和短橫孔不是一個概念。

王緒軍 發表于 2015-9-18 23:43
CSK-IIIA試塊中的Φ1*6短橫孔是根據Φ2平底孔計算出來的！是中國的前輩在超聲波檢測領域的發明創造，已經使 ...

謝謝解答。那是否可以理解成，遠場中，CSK-IIIA試塊上的φ1×6短橫孔相當于平底孔φ2？

Xueliang 發表于 2015-9-18 17:28
什么學校？瞎搞的

學校不差，應該是我學藝不精

這是一個有趣的話題。支持樓主。