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          [請教] 關于曲面檢測的耦合補償

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          查看12154 | 回復8 | 2013-7-12 11:45:17 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
          本帖最后由 jun200407 于 2013-7-12 11:47 編輯

          4730說檢測面是曲面時,應采用CSⅢ標準試塊來測定由于曲率不同而引起的耦合損失。
          例如,我檢測Φ200的軸,那補償它的曲面耦合損失,具體應該如何操作,謝謝

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          236457036 | 2014-1-1 18:49:24 | 只看該作者
          楓林晚 發表于 2013-12-18 08:30
          個人對CSIII試塊的功用表示疑惑。檢測有圓柱面的鍛件一般在CSI試塊上做好DAC,然后測試曲率補償。問題是CSI ...

          此處的CSIII試塊用于在于,先用CSI型試塊調靈敏度,再用厚度差不多的CSIII,看低波降低多少,在適當補償。原在在于CSIII試塊補償的是發射入工件后的能量大致一樣。而缺陷一般用一次低波之前的波形計算,補償之后對于缺陷的定量影響不大。而軸型工件的兩曲面,與CSIII一曲面,不同之處,低波的高低有關,與缺陷的定量無關
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          板凳
          ?_拒絕再玩 | 2013-7-12 13:15:23 | 只看該作者
          沒做過 ,不知道。
          地板
          澄江福弟 | 2013-7-18 11:41:07 | 只看該作者
          18dB (API)
          5#
          春華秋實 | 2013-12-16 12:53:09 | 只看該作者
          {:soso_e100:}
          6#
          jzgyr | 2013-12-17 10:52:24 | 只看該作者
          采用高級仿真軟件(例如CIVA)算一下!
          7#
          htckelina | 2013-12-17 15:31:34 | 只看該作者
          本帖最后由 htckelina 于 2013-12-17 15:42 編輯

          找出75-0,75-100兩試塊,使探頭耦合,最好有壓塊,比較一次底波的分貝差值,就是曲率補償值。
          "R為工件曲率半徑的0.9~1.5倍”的提法和5.1.6.2 C)的說法大體一樣,我認為是錯的。剛好與ASME相反。
          8#
          低調、行走 | 2013-12-18 10:08:52 | 只看該作者
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          天行建-榮探 | 2013-12-18 10:36:10 | 只看該作者
          {:soso_e100:}來學習了
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