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          無(wú)損檢測(cè)在線問(wèn)題解答

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          George | 2011-5-24 20:39:49 | 只看該作者
          謝謝丁工,這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)我也看到了,但是現(xiàn)在執(zhí)行的是ASME標(biāo)準(zhǔn),不知道ASME標(biāo)準(zhǔn)上有沒(méi)有相關(guān)規(guī)定或知識(shí)?如果引用EN標(biāo)準(zhǔn),又變成標(biāo)準(zhǔn)體系變化的問(wèn)題,不知道EN規(guī)定0.5mm這個(gè)數(shù)值的原理是什么?
          另外,我試圖從曲面考慮這個(gè)問(wèn)題,參考JB/T4730標(biāo)準(zhǔn)5.1.3.4 檢測(cè)曲面工件時(shí),如檢測(cè)面曲率半徑R=<W2/4時(shí)(W為探頭接觸面寬度,環(huán)縫檢測(cè)時(shí)為探頭寬度,縱縫檢測(cè)時(shí)為探頭長(zhǎng)度),應(yīng)采用與檢測(cè)面曲率相同的對(duì)比試塊。也就是說(shuō)只要滿足R>W2/4時(shí),就不用對(duì)比試塊,可以認(rèn)為曲面耦合可以接受的,根據(jù)這個(gè)公式計(jì)算間隙的臨界值就行了,不知可否?也不知標(biāo)準(zhǔn)上的公式是怎么來(lái)的?
          22#
          丁偉臣 | 2011-5-24 21:17:53 | 只看該作者
          ASME V T471.5規(guī)定:當(dāng)焊縫或母材影響檢測(cè)應(yīng)進(jìn)行必要的修磨;
          ASME SE 114 6.1.3.3有與EN1714相當(dāng)?shù)囊?guī)定,要求不大于0.5毫米,但必須充滿合適的耦合劑。
          偉臣答疑回來(lái)啦!
          23#
          George | 2011-5-26 15:15:30 | 只看該作者
          哪位同行知道ASME標(biāo)準(zhǔn)對(duì)Ir-192透照厚度范圍的規(guī)定在哪里?小弟找半天只找到對(duì)于100KV~500KV能量有2.5~10個(gè)半值層的規(guī)定。
          24#
          George | 2011-5-26 15:18:19 | 只看該作者
          感謝丁工的解答!
          25#
          丁偉臣 | 2011-5-26 18:15:02 | 只看該作者
          哪位同行知道ASME標(biāo)準(zhǔn)對(duì)Ir-192透照厚度范圍的規(guī)定在哪里?小弟找半天只找到對(duì)于100KV~500KV能量有2.5~10個(gè)半值層的規(guī)定。
          無(wú)具體要求,只要黑度和靈敏度合格就行。
          偉臣答疑回來(lái)啦!
          26#
          George | 2011-5-26 21:43:20 | 只看該作者
          丁工,我看E94第7條能量的選擇,對(duì)于100KV~500KV能量照射2.5~10個(gè)半值層厚度物質(zhì),可以獲得滿意的結(jié)果,而Ir-192相當(dāng)于400Kv的能量,其鋼的半值層為8.9mm,故透照厚度為22.25~89mm之間,是否可以認(rèn)為是標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定?
          但是我看到國(guó)內(nèi)的中外標(biāo)準(zhǔn)對(duì)比相關(guān)論文說(shuō)ASME標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定Ir-192透照厚度為>=19mm,所以有疑問(wèn)?  請(qǐng)多指教。
          27#
          丁偉臣 | 2011-5-29 14:29:56 | 只看該作者
          本帖最后由 丁偉臣 于 2011-5-29 14:34 編輯

          美標(biāo)中強(qiáng)調(diào)檢測(cè)結(jié)果---演示驗(yàn)證檢測(cè)工藝是否滿足要求---孔型像質(zhì)計(jì)的識(shí)別:對(duì)比度(至少3邊可見(jiàn))和清晰度(小孔清晰可見(jiàn))。---故Ir192源的透照范圍不應(yīng)僅限制在20~100毫米,可能更寬。
          歐標(biāo)由于絲型像質(zhì)計(jì)的使用,不能直接獲得對(duì)比度的信息,因?yàn)槲覀兘z的可見(jiàn)是對(duì)比度和不清晰度的綜合。---故要求過(guò)程參數(shù)的控制保證一定的檢測(cè)質(zhì)量。另:歐標(biāo)規(guī)定一般的檢測(cè)對(duì)象可直接執(zhí)行檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn),無(wú)須工藝驗(yàn)證。
          不同的文化導(dǎo)致不同的規(guī)定。其實(shí)如果更好的膠片系統(tǒng)或透照工藝的應(yīng)用,放射源的厚度覆蓋范圍可能更廣,比如在歐標(biāo)中對(duì)應(yīng)的中心透照特殊規(guī)定。
          偉臣答疑回來(lái)啦!
          28#
          George | 2011-5-30 09:03:53 | 只看該作者
          謝謝丁工,小弟受教,感激不盡!
          29#
          George | 2011-6-20 12:23:53 | 只看該作者
          同行們,請(qǐng)問(wèn)射線源透照工件,一般情況下,如果源強(qiáng)Ci數(shù)過(guò)小,致使曝光時(shí)間過(guò)長(zhǎng),會(huì)對(duì)射線照相質(zhì)量產(chǎn)生影響嗎,會(huì)產(chǎn)生什么影響?(例如不清晰度,對(duì)比度等)
          30#
          丁偉臣 | 2011-6-20 22:04:16 | 只看該作者
          已回答,見(jiàn)我的留言!
          偉臣答疑回來(lái)啦!
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