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          [請(qǐng)教] 有哪位朋友知道LY12 硬鋁1號(hào)試塊零偏始終不對(duì)?

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          11#
          缺欠 | 2014-7-1 22:06:34 | 只看該作者
          本帖最后由 缺欠 于 2014-7-4 23:04 編輯
          缺欠 發(fā)表于 2014-7-1 19:36
          目前解決方法與你說的類似;很不方便.總感覺買的試塊沒有達(dá)到檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn).有機(jī)會(huì)買個(gè)GE的試塊試試.建議以后試 ...

          解決方法:在①號(hào)試塊20鋼荷蘭船型試塊ⅡW-V1上調(diào)好零偏與前沿,在③號(hào)硬鋁長(zhǎng)橫孔∮2×40試塊試調(diào)K值(聲速是3140m/s),然后在這試塊上作DAC曲線.
          探頭零偏相差2微秒左右對(duì)水平與深度影響在1.5毫米左右.再大就會(huì)對(duì)前沿也有影響, 水平與深度也會(huì)變大.   

          點(diǎn)評(píng)

          以前做過實(shí)驗(yàn),LY12材料兩偏振橫波聲時(shí)相差0.2uS(試塊厚度36mm左右)。  發(fā)表于 2014-7-2 15:32
          保證安全的前提下,效率最大化.
          12#
          楓林晚 | 2014-7-2 09:12:08 | 只看該作者
          樓主的問題貌似是兩個(gè)試塊的聲學(xué)性能存在較大的差異,個(gè)人認(rèn)為要修正這個(gè)差異所帶來的誤差比較困難且實(shí)際意義有待商榷。因?yàn)檫€有一個(gè)關(guān)鍵的未知因素就是被檢工件與橫孔試塊的聲學(xué)性能的差異究竟有多大?這個(gè)需要實(shí)際檢測(cè)驗(yàn)證,或者做對(duì)比試塊校驗(yàn)。根據(jù)版主所說的,鋁材的制造工藝導(dǎo)致的組織上的各向異性會(huì)對(duì)聲波的傳播造成影響,是否可以考慮改變探頭的檢測(cè)頻率?或者用雙晶斜探頭進(jìn)行試驗(yàn)?或者用縱波雙晶斜探頭實(shí)驗(yàn)下等等,更改檢測(cè)參數(shù)進(jìn)行對(duì)比,找到最優(yōu)化的檢測(cè)方案。如果各種方法都行不通,建議更改檢測(cè)方法。
          好好學(xué)習(xí)天天向上
          13#
          luolang1314 | 2014-7-2 15:27:02 | 只看該作者
          缺欠 發(fā)表于 2014-7-1 22:06
          問題原因:用②號(hào)試塊LY12 (CSK-1A)調(diào)好聲速與K值,到③號(hào)硬鋁長(zhǎng)橫孔∮2×40試塊上的深度不對(duì).其它實(shí)驗(yàn)室也 ...

          根據(jù)你的問題說明,建議考慮LY12試塊取樣方式;3號(hào)硬鋁試塊和2號(hào)硬鋁試塊檢測(cè)面是否保持一致?(主要考慮材料的棍軋方向)如果在取樣時(shí)已考慮到材料組織的各向異性影響,誤差不應(yīng)該這么大。
          另外,對(duì)于組織噪聲影響較大的金屬材料檢測(cè),按CSK-1A型式設(shè)計(jì)的試塊一般不適用(在粗晶材料檢測(cè)時(shí)也發(fā)現(xiàn)類似情況,聲速校不準(zhǔn),零點(diǎn)偏移等)。
          如果公司能夠設(shè)計(jì)、加工試塊的話,直接在3號(hào)試塊邊緣加工R50和R100的圓弧面。聲速衰減較大的,適當(dāng)改為R25和R50圓弧面。
          除了要考慮LY12的組織結(jié)構(gòu)的影響,上述校驗(yàn)方法也應(yīng)考慮LY12對(duì)聲束偏轉(zhuǎn)影響,以及近、遠(yuǎn)場(chǎng)對(duì)探頭零偏測(cè)試的影響。
          在對(duì)粗晶材料校準(zhǔn)的時(shí)候,我們也是采用代換法(一般代聲速)校核,能把探頭零點(diǎn)偏差降低一些。不知道你們的3號(hào)試塊規(guī)格,我們用類似于3號(hào)試塊的專用試塊,是可以校探頭前沿、探頭零點(diǎn)或聲速(兩者選一,專用試塊K值不容易校準(zhǔn))
          14#
          缺欠 | 2014-7-4 22:53:07 | 只看該作者
          楓林晚 發(fā)表于 2014-7-2 09:12
          樓主的問題貌似是兩個(gè)試塊的聲學(xué)性能存在較大的差異,個(gè)人認(rèn)為要修正這個(gè)差異所帶來的誤差比較困難且實(shí)際意 ...

          兩試塊材質(zhì)相同只是1號(hào)試塊零偏有問題。
          保證安全的前提下,效率最大化.
          15#
          缺欠 | 2014-7-4 23:01:22 | 只看該作者
          本帖最后由 缺欠 于 2014-7-4 23:02 編輯
          luolang1314 發(fā)表于 2014-7-2 15:27
          根據(jù)你的問題說明,建議考慮LY12試塊取樣方式;3號(hào)硬鋁試塊和2號(hào)硬鋁試塊檢測(cè)面是否保持一致?(主要考慮 ...

          2號(hào)試塊與3號(hào)試塊材質(zhì)相同。問題是船形試塊零偏相差太多。有幾家單位都是相同的問題。試塊生產(chǎn)商相同問題是否相辦法結(jié)決。粗晶零偏不是問題。

          點(diǎn)評(píng)

          這個(gè)試塊廠家不好解決的,他頂多做到試塊材料取樣盡可能保持一致;LY12零偏還和材料本身的聲學(xué)特性有關(guān),也和零偏測(cè)試誤差有關(guān)。  發(fā)表于 2014-7-5 07:10
          保證安全的前提下,效率最大化.
          16#
          luolang1314 | 2014-7-5 08:49:42 | 只看該作者
          缺欠 發(fā)表于 2014-7-4 23:01
          2號(hào)試塊與3號(hào)試塊材質(zhì)相同。問題是船形試塊零偏相差太多。有幾家單位都是相同的問題。試塊生產(chǎn)商相同問題 ...

          能否用2號(hào)試塊測(cè)定橫波聲速和K值,粗調(diào)一下零點(diǎn),在3號(hào)試塊深孔上校零點(diǎn)(個(gè)人覺得至少H>30mm的深孔,或者采用與檢測(cè)工件厚度相近的深孔)?具體校核的方法,探頭零點(diǎn)使得儀器顯示深度與目標(biāo)孔深一致,則校核完畢(個(gè)人覺得,LY采用這個(gè)辦法校準(zhǔn)的探頭零點(diǎn),不同聲程處,探頭零點(diǎn)偏差也同樣較大,以此可以了解LY一些聲學(xué)特征)。碳鋼船型試塊校的聲速、零點(diǎn)、K值與鋁合金試塊校的相差太大。
          供參考!
          17#
          缺欠 | 2016-7-24 00:56:08 | 只看該作者
          本帖最后由 缺欠 于 2016-7-26 15:09 編輯
          luolang1314 發(fā)表于 2014-7-5 08:49
          能否用2號(hào)試塊測(cè)定橫波聲速和K值,粗調(diào)一下零點(diǎn),在3號(hào)試塊深孔上校零點(diǎn)(個(gè)人覺得至少H>30mm的深孔,或 ...

          版主你好!咨詢一下,短前沿的探頭(6毫米左右),用在鋁試塊30毫米深度,有沒有用過。
          保證安全的前提下,效率最大化.
          18#
          wjjxuey | 2017-5-22 10:32:04 | 只看該作者
          luolang1314 發(fā)表于 2014-7-2 15:27
          根據(jù)你的問題說明,建議考慮LY12試塊取樣方式;3號(hào)硬鋁試塊和2號(hào)硬鋁試塊檢測(cè)面是否保持一致?(主要考慮 ...

          可能很多人忽視了一點(diǎn),在各向異性的材料制作試塊時(shí),適用的聲程范圍。在確定自己要使用的聲程范圍后再去考慮制作試塊,誤差應(yīng)該不會(huì)這么大。
          隨著知識(shí)面的拓寬,感覺現(xiàn)在NDE這一塊的壓力越來越大了,傳統(tǒng)技術(shù)已經(jīng)漸漸不能適應(yīng)目前檢測(cè)發(fā)展的趨勢(shì)。如果不及時(shí)充電,提高自身,將很快被...
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