相控陣直探頭檢測-靈敏度的選擇

糟老頭子 發表于 2013-5-22 17:53
不好意思，我還是不明白你的問題是什么。能再詳細說下嘛？

同志，你好！{:soso_e100:}
  我已經描述的很清楚了，麻煩你再次推敲一下！ 應該有所發現！會明白我的問題的！！
我挺你~！

allen_hay 發表于 2013-5-22 15:31
你將該現象重復一下，扶穩探頭，降低設備的脈沖重復頻率，看該現象還存不存在。
如果仍然存在，換一個常規 ...

你的提示很好！
1、首先降低重復頻率時，并沒，沒有引起相關圖示的靈敏度較低，所以可以斷定：和重復頻率沒有關系的!
2、目前我沒有采用常規的探頭進行檢測；但是你的提示，經過多次反射形成的誤接收。
      這也許是唯一的解釋了。。

Ansan 發表于 2013-5-22 19:30
你的提示很好！
1、首先降低重復頻率時，并沒，沒有引起相關圖示的靈敏度較低，所以可以斷定：和重復頻 ...

不知是不是因為我的理解能力比較差，還是不太明白你問題的所在。
增加增益后，靈敏度提高，工件中的噪聲或小的缺陷當然會顯示出來，這很正常啊？你還是傳個圖片詳細你的問題為好，畢竟超聲波這東西也不是很好理解的，樓下，你說呢？

糟老頭子 發表于 2013-5-22 20:56
不知是不是因為我的理解能力比較差，還是不太明白你問題的所在。
增加增益后，靈敏度提高，工件中的噪聲 ...

你提到的‘“工件中的噪聲或者小缺陷”，我這有個疑問！
條件： 使用相控陣直探頭，增益讀數為40dB,去檢測鋼板T=20mm, 如果發現相關顯示的深度數值小于20mm的缺陷。。你如何去辨別是噪聲還是缺陷呢？？

Ansan 發表于 2013-5-22 23:07
你提到的‘“工件中的噪聲或者小缺陷”，我這有個疑問！
條件： 使用相控陣直探頭，增益讀數為40dB,去檢 ...

工件中存在對后期使用時造成負面影響的“不連續”被定義為“缺陷”，你在校準好儀器靈敏度后，只要不連續的信號超過了你的檢出界限，那你就可以定義這個信號為缺陷信號了。
你在儀器上區別不出哪個是不連續，那個是噪聲信號嗎？信噪比如此之低？還是你們的“檢出界限”過于苛刻？

糟老頭子 發表于 2013-5-22 23:24
工件中存在對后期使用時造成負面影響的“不連續”被定義為“缺陷”，你在校準好儀器靈敏度后，只要不連續 ...

我不敢茍同！
相控陣技術，存在許多幾何缺陷，類似柵瓣！
你覺得用‘檢出界限’來判別真實缺陷和未缺陷，你覺得合適嗎？？

Ansan 發表于 2013-5-22 23:38
我不敢茍同！
相控陣技術，存在許多幾何缺陷，類似柵瓣！
你覺得用‘檢出界限’來判別真實缺陷和未缺陷 ...

本來就是這樣判斷的，你看常規超聲做定量曲線（dac dgs），一樣的

Ansan 發表于 2013-5-22 23:38
我不敢茍同！
相控陣技術，存在許多幾何缺陷，類似柵瓣！
你覺得用‘檢出界限’來判別真實缺陷和未缺陷 ...

你覺得相控陣不能定量嗎？

糟老頭子 發表于 2013-5-23 09:10
你覺得相控陣不能定量嗎？

首先一點相控陣能定量！但是目前的技術只是利用演變下來的TCG進行定量。
但是它比常規超聲復雜性強，存在的幾何形狀相關圖示很多。   這就需要深入研究相控陣的原理（特別是在聲束上）+常規超聲反射和折射原理，綜合考慮才能不引起誤判。
所以在你提出的僅僅依據“根據DAC”來判定缺陷，這是我不附議的原因所在。
再舉個例子：
   假如使用直探頭檢測平板，發現了靈敏度的偏低的相關圖示，經過參考了深度數值，相關圖示是在板材內，但是波幅比我們預定TCG的波幅低。。
  但是我們并不能說明缺陷，不存在。

{:soso_e100:}