探頭的入射點(diǎn)，真的在探頭上么？

天才無憂 發(fā)表于 2013-3-10 15:12
真正的入射點(diǎn)其實(shí)是在工件表面，我們實(shí)際測得的入射點(diǎn)就是工件表面的。
不過耦合劑厚度都這么小，沒必要這 ...

請問你實(shí)際測得的入射點(diǎn)在工件表面上，是怎么測得的？

這個(gè)問題比較復(fù)雜。當(dāng)探頭在試塊上測試時(shí)的耦合劑層厚度與在工件上探測時(shí)的厚度一致時(shí)，情況會(huì)是怎么樣，厚度不一時(shí)，又會(huì)怎么樣。誤差可能不同。

{:soso_e100:}

入射點(diǎn)的意義：用來按聲程和角度進(jìn)行顯示的定位。
嚴(yán)格講，入射點(diǎn)并不是一個(gè)理論的點(diǎn)，因?yàn)槁暿哂幸欢ǖ膶挾龋瑥亩瑢?shí)際入射點(diǎn)的具體位置并不重要。
在測量中為了簡化，我們僅假設(shè)回波來自聲束軸向上，故此時(shí)可采用簡單的方法進(jìn)行軸線中心線的入射點(diǎn)測量。

贊同丁老師的意見

謝謝李老師和丁老師

{:soso_e163:}

探頭晶片發(fā)出的聲波不是一條直線，而是一束波。檢測時(shí)為了計(jì)算和定位方便而近似看成一直線在傳播，入射點(diǎn)不在探頭上，而是在被檢工件上。

{:soso_e163:}

    通常說的“（斜）探頭的入射點(diǎn)” ，是指有耦合劑的情況下，實(shí)測的入射點(diǎn)，一般是在IIW或CSK-1A試塊上，在對應(yīng)R100圓柱曲面上測定的，即根據(jù)試塊上R100圓柱的圓心標(biāo)定的。入射點(diǎn)雖然標(biāo)在探頭上，實(shí)則代表工件上相應(yīng)的入射點(diǎn)。我常稱這種方法為“刻舟求劍” 。所以，實(shí)測的探頭的入射點(diǎn)，并不是探頭(楔抉) 傾斜縱波聲軸的真正入射點(diǎn)，或者說，實(shí)測的探頭入射點(diǎn)，雖然標(biāo)識(shí)在探頭上，但實(shí)際并不在探頭上。假如聲束向左下傾斜，真正入射點(diǎn)應(yīng)在實(shí)測探頭入射點(diǎn)的右側(cè)，二者有很小偏差P，P的大小與聲束傾角和耦合層厚度有關(guān)。
    討論這個(gè)問題的目的，主要想探討耦合薄層，對傾斜入射縱波折射是否有影響，是否影響缺陷準(zhǔn)確定位。