雙晶探頭的表面補(bǔ)償問題

楓林晚 發(fā)表于 2013-1-20 17:19
雙晶探頭一般探測(cè)的深度范圍不大，一般不會(huì)超過100，（超過100以后靈敏度急劇下降）比如你工件厚度是80 ， ...

樓上的方法沒有做過試驗(yàn)，也不好發(fā)表評(píng)論。但斜探頭做過對(duì)比（以探頭做的DAC曲線近似模擬，誤差的確是不大，2dB以內(nèi)，試件厚度12～20mm，探頭2.5M 10*10 A70，K2）。

{:soso_e163:}

我也很關(guān)注這幾個(gè)問題，求回答

具體做一些實(shí)驗(yàn)，探頭用標(biāo)準(zhǔn)的壓塊壓著，

wjjxuey 發(fā)表于 2013-1-21 14:23
樓上的方法沒有做過試驗(yàn)，也不好發(fā)表評(píng)論。但斜探頭做過對(duì)比（以探頭做的DAC曲線近似模擬，誤差的確是不 ...

你好，樓主，斜探頭有沒有具體的實(shí)驗(yàn)步驟啊，麻煩你介紹一下

樓主說的是雙晶直探頭，雙晶直探頭不會(huì)產(chǎn)生聲波多次反射嗎

雙晶斜探頭應(yīng)該按照樓主介紹的測(cè)試，本人知識(shí)有限，說錯(cuò)了，請(qǐng)各位幫助指正，謝謝

{:soso_e179:}

值得借鑒！學(xué)習(xí)！{:soso_e179:}

試塊是兩面光的，工件如果兩面都不光（例如鑄件噴丸狀態(tài)），按上述方法測(cè)得的分貝差是否就是我們要的表面補(bǔ)償值呢？要不把分貝差除以二。真想拿個(gè)試塊去噴丸，對(duì)比一下。還望各位指教。