JB/T4730.2（射線）討論區(qū)

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   其實ASME圓形缺陷評定圖譜只是舉例，在實際評片中是不能進行比對的，如每張片子都進行比對是無法評片的。具體圓形缺陷的評定應(yīng)按圓形缺陷評定條款執(zhí)行。感覺不算太麻煩。記住各圓形缺陷的定義。

    JB.T4730.3-2005-4.2中。P78.表7.單個缺陷質(zhì)量分級。在鍛件檢測中，如果缺陷深度小于3N時，按P77.4.2.8.1中--對于3倍近場區(qū)內(nèi)的缺陷，可采用距離--波幅曲線來確定缺陷當(dāng)量。而表7是用Φ4+db來表示，是否合適？是否可考慮當(dāng)缺陷深度小于3N時，用當(dāng)量范圍來表示，因為在該區(qū)域的缺陷當(dāng)量 是用距離--波幅曲線來確定。例如單個缺陷Ⅲ級，Φ4+（﹥8db--12db)是否可采用（Φ6.34--Φ8）表示。本人感覺，當(dāng)缺陷 深度大于 3N時，用Φ4+db,當(dāng)缺陷深度小于3N時用當(dāng)量范圍表示，這樣表示較規(guī)范。不知理解是否正確？僅供參考。另外JB.T4730.3-2005--6.P104表29，斜探頭K值的選擇，表中探頭K值是否標(biāo)注反了，根據(jù)管壁厚度應(yīng)該為：3.0--2.5；2.5--2.0；2.0--1.5.而不應(yīng)該是：2.5--3.0；2.0--2.5；1.5--2.0.

    沒注意將UT問題發(fā)在RT討論區(qū)里。

K值問題，應(yīng)該好好考慮，現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)對縱縫的要求比環(huán)縫嚴(yán)，其實環(huán)縫橫向裂紋更危險，建議把縱縫的K值應(yīng)放寬，或者取消K值。前面有人也探討過。

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征求意見稿網(wǎng)上怎么還沒有出來呢？

對NB/T47013.2意見稿中4.3.2條 射線檢測工藝文件驗證看法：
      當(dāng)f一項參數(shù)改變時，檢測工藝文件必須進行修訂并重新驗證；是否需要？
       本人認(rèn)為：在其它參數(shù)不變時，f參數(shù)改變實際就是F改變了，這樣可通過平方反比定律對曝光量進行換算，獲得新的曝光量進行透照，可不必對檢測工藝文件進行修訂和重新驗證。

標(biāo)準(zhǔn)(征求意見稿)4.4條”輻射防護”中關(guān)于控制區(qū)和監(jiān)督區(qū)的劃分
a)GB16357標(biāo)準(zhǔn)已被GBZ117-2006《工業(yè)X射線探傷放射衛(wèi)生防護標(biāo)準(zhǔn)》代替，GBZ117-2006所代替的歷次版本為：GB16357-1996，GBZ117-2002，GB/T17150-1997，GBZ/T150-2002。GBZ117-2006標(biāo)準(zhǔn)第4.2條“X射線現(xiàn)場探傷作業(yè)”中規(guī)定對于現(xiàn)場探傷作業(yè)，按空氣比釋動能率大小將作業(yè)場所劃分為控制區(qū)和監(jiān)督區(qū)。
b)GB18465標(biāo)準(zhǔn)已被GBZ132-2008《工業(yè)γ射線探傷放射防護標(biāo)準(zhǔn)》代替，GBZ132-2008所代替的歷次版本為：GB18465-2001，GBZ132-2002。GBZ132-2008標(biāo)準(zhǔn)第`7條形“移動式探傷的附加要求”中規(guī)定進行探傷作業(yè)前，應(yīng)將工作區(qū)域劃分為控制區(qū)和監(jiān)督區(qū)。
   因此，不論是X射線探傷，還是γ射線探傷，都統(tǒng)一將工作區(qū)域劃分為控制區(qū)和監(jiān)督區(qū)。而不再是GB16357標(biāo)準(zhǔn)的X射線探傷劃分為控制區(qū)和管理區(qū)，GB18465標(biāo)準(zhǔn)的γ射線探傷劃分為控制區(qū)和監(jiān)督區(qū)。