一個(gè)企業(yè)的提問(wèn)：鍛件超聲檢測(cè)驗(yàn)收的問(wèn)題

一個(gè)企業(yè)的提問(wèn)——大亮<[email protected]

關(guān)于JB/T4730.3-2005超聲波檢驗(yàn)中有關(guān)專業(yè)術(shù)語(yǔ)及驗(yàn)收級(jí)別中若干問(wèn)題的解答。

例：一鍛件，規(guī)格1305×920×1300，材質(zhì)F22,驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)JB/T4730.3-2005-4.2款項(xiàng)執(zhí)行。要求探傷靈敏度不得低于φ2mm當(dāng)量基準(zhǔn)反射體波幅。驗(yàn)收級(jí)別：?jiǎn)蝹€(gè)缺陷Ⅱ級(jí)；密集區(qū)缺陷區(qū)Ⅰ級(jí)；底波降低量Ⅰ級(jí)。

檢驗(yàn)結(jié)果：

在檢驗(yàn)中發(fā)現(xiàn),在100mm×150mm范圍內(nèi),存在密集區(qū)缺陷。其反射波幅超過(guò)φ2mm當(dāng)量基準(zhǔn)反射體波高12～14dB，缺陷當(dāng)量均在φ2～3mm范圍之內(nèi)。在檢驗(yàn)評(píng)定時(shí)，雙方(以下簡(jiǎn)稱甲、乙方)產(chǎn)生疑問(wèn)：

1. 依照標(biāo)準(zhǔn),現(xiàn)檢驗(yàn)出來(lái)的缺陷面積,缺陷幅值,缺陷當(dāng)量,雙方意見(jiàn)一致。

2. 甲方：只是說(shuō)允許φ3mm當(dāng)量缺陷存在，不能說(shuō)它不是密集區(qū)缺陷，依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)JB/T4730.3-2005-4.2.9.2規(guī)定, 小于φ3mm當(dāng)量直徑的缺陷密集區(qū)不計(jì)就不算密集區(qū)缺陷。

   乙方：依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)JB/T4730.3-2005-4.2.10.3規(guī)定，Ⅰ級(jí)密集區(qū)

缺陷為零，即不存在。

3. 甲方：依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)JB/T4730.1-2005-3.16第三條規(guī)定，其反射波幅均大于某一特定當(dāng)量缺陷基準(zhǔn)反射波幅是φ3mm 。

     乙方：依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)JB/T4730.3-2005- 4.2.6.3一般不得低于最大檢測(cè)距離處φ2mm平底孔當(dāng)量直徑。我們計(jì)算出來(lái)的缺陷當(dāng)量也是以φ2mm為基準(zhǔn)的。

4. JB/T4730.3-2005-4.2若干條規(guī)定，單個(gè)缺陷，密集區(qū)缺陷，底波降低量的記錄是說(shuō)允許這些缺陷存在或不允許存在而進(jìn)行的記錄，是評(píng)定缺陷等級(jí)的依據(jù)，這種說(shuō)法對(duì)嗎？

     諸上問(wèn)題懇請(qǐng)專家給予解答和幫助，我們表示誠(chéng)摯謝意！

強(qiáng)老師。。。

1:首先確認(rèn)缺陷深度。

A:反射波幅超過(guò)φ2mm當(dāng)量基準(zhǔn)反射體波高12～14dB。要確認(rèn)缺陷深度。
1：按照聲壓算出缺陷實(shí)際大小。
B:在檢驗(yàn)中發(fā)現(xiàn),在100mm×150mm范圍內(nèi),存在密集區(qū)缺陷
1：我記得4730規(guī)定好像是50*50范圍 記錄大于大于3MM的單獨(dú)缺陷。
C:I級(jí)密集區(qū)缺陷為零，即不存在。
1：這好像不合理。可以出現(xiàn)單個(gè)缺陷或者小于幾個(gè)以內(nèi)的缺陷。只有大于等于5個(gè)規(guī)定缺陷大小才算密集缺陷。
D:JB/T4730.3-2005-4.2若干條規(guī)定，單個(gè)缺陷，密集區(qū)缺陷，底波降低量的記錄是說(shuō)允許這些缺陷存在或不允許存在而進(jìn)行的記錄，是評(píng)定缺陷等級(jí)的依據(jù)，這種說(shuō)法對(duì)嗎？
特別是底波降低是比較合理。
我個(gè)人認(rèn)為合理。
以上FYI.

有點(diǎn)意思，等待結(jié)果公布中！

2. 甲方：只是說(shuō)允許φ3mm當(dāng)量缺陷存在，不能說(shuō)它不是密集區(qū)缺陷，依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)JB/T4730.3-2005-4.2.9.2規(guī)定, 小于φ3mm當(dāng)量直徑的缺陷密集區(qū)不計(jì)就不算密集區(qū)缺陷。
   乙方：依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)JB/T4730.3-2005-4.2.10.3規(guī)定，Ⅰ級(jí)密集區(qū)缺陷為零，即不存在。
我的觀點(diǎn)：我贊同甲方的意見(jiàn)。在50mm聲程范圍內(nèi)或50*50mm檢測(cè)面上同一深度范圍內(nèi)有：大于φ3mm當(dāng)量直徑的缺陷有5個(gè)及以上時(shí)才算是密集區(qū)缺陷，否則不算密集區(qū)。乙方所說(shuō)的“Ⅰ級(jí)密集區(qū)缺陷為零”，這個(gè)零是一種相對(duì)的不存在，并不是絕對(duì)的不存在，即：首先要存在符合“密集區(qū)”定義的缺陷區(qū)域。
3. 甲方：依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)JB/T4730.1-2005-3.16第三條規(guī)定，其反射波幅均大于某一特定當(dāng)量缺陷基準(zhǔn)反射波幅是φ3mm 。
     乙方：依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)JB/T4730.3-2005- 4.2.6.3一般不得低于最大檢測(cè)距離處φ2mm平底孔當(dāng)量直徑。我們計(jì)算出來(lái)的缺陷當(dāng)量也是以φ2mm為基準(zhǔn)的。
我的觀點(diǎn)：我比較贊同甲方觀點(diǎn)，即對(duì)餅形鍛件其反射波幅均大于某一特定當(dāng)量缺陷基準(zhǔn)反射波幅是指φ4mm這一特定當(dāng)量 ，對(duì)其它鍛件其反射波幅均大于某一特定當(dāng)量缺陷基準(zhǔn)反射波幅是指φ3mm 這一特定當(dāng)量。以最大檢測(cè)距離處φ2mm平底孔當(dāng)量直徑作為基準(zhǔn)，可以得出某一深度上的缺陷當(dāng)量值，當(dāng)此深度上的缺陷當(dāng)量值大于或等于特定當(dāng)量值時(shí)，且符合密集區(qū)的定義時(shí)，這時(shí)作為密集區(qū)缺陷進(jìn)行記錄，并評(píng)定級(jí)別。
4. JB/T4730.3-2005-4.2若干條規(guī)定，單個(gè)缺陷，密集區(qū)缺陷，底波降低量的記錄是說(shuō)允許這些缺陷存在或不允許存在而進(jìn)行的記錄，是評(píng)定缺陷等級(jí)的依據(jù)，這種說(shuō)法對(duì)嗎？
我的觀點(diǎn)：我認(rèn)為這種說(shuō)法是對(duì)的。

關(guān)鍵在于我們密集顯示的評(píng)定依據(jù)不夠清晰，而且個(gè)人認(rèn)為在50mm聲程范圍內(nèi)或50*50mm檢測(cè)面上同一深度范圍內(nèi)有：大于一定當(dāng)量直徑的缺陷有5個(gè)及以上時(shí)才算是密集區(qū)缺陷，實(shí)際操作有點(diǎn)困難和不科學(xué)。比如一個(gè)有延展性顯示，貫穿整個(gè)檢測(cè)區(qū)域，但其是一個(gè)顯示或單個(gè)點(diǎn)狀的顯示等同對(duì)待嗎？
按照標(biāo)準(zhǔn)來(lái)說(shuō)，支持YXF的觀點(diǎn)！

丁工所講的“有延展性顯示貫穿整個(gè)檢測(cè)區(qū)域的缺陷”是否可以理解為缺陷本身的高度較大（從入射聲速方向上看）？如果是這樣的話，在檢測(cè)時(shí)，當(dāng)具有與原檢測(cè)面1相垂直的檢測(cè)面2時(shí)，此時(shí)從檢測(cè)面2應(yīng)該不難發(fā)現(xiàn)這個(gè)延展性的缺陷，從檢測(cè)面2對(duì)缺陷作評(píng)定的話是否更恰當(dāng)一點(diǎn)？不知我的理解對(duì)否？

在檢驗(yàn)中發(fā)現(xiàn),在100mm×150mm范圍內(nèi),存在密集區(qū)缺陷。其反射波幅超過(guò)φ2mm當(dāng)量基準(zhǔn)反射體波高12～14dB，缺陷當(dāng)量均在φ2～3mm范圍之內(nèi)。在檢驗(yàn)評(píng)定時(shí)，雙方(以下簡(jiǎn)稱甲、乙方)產(chǎn)生疑問(wèn)：

1. 依照標(biāo)準(zhǔn),現(xiàn)檢驗(yàn)出來(lái)的缺陷面積,缺陷幅值,缺陷當(dāng)量,雙方意見(jiàn)一致。

2. 甲方：只是說(shuō)允許φ3mm當(dāng)量缺陷存在，不能說(shuō)它不是密集區(qū)缺陷，依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)JB/T4730.3-2005-4.2.9.2規(guī)定, 小于φ3mm當(dāng)量直徑的缺陷密集區(qū)不計(jì)就不算密集區(qū)缺陷。

   乙方：依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)JB/T4730.3-2005-4.2.10.3規(guī)定，Ⅰ級(jí)密集區(qū)
支持甲方觀點(diǎn)
3. 甲方：依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)JB/T4730.1-2005-3.16第三條規(guī)定，其反射波幅均大于某一特定當(dāng)量缺陷基準(zhǔn)反射波幅是φ3mm 。

     乙方：依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)JB/T4730.3-2005- 4.2.6.3一般不得低于最大檢測(cè)距離處φ2mm平底孔當(dāng)量直徑。我們計(jì)算出來(lái)的缺陷當(dāng)量也是以φ2mm為基準(zhǔn)的。
按照J(rèn)B/T4730.1-2005-3.16的密集缺陷的定義 以及JB/T4730.3-2005 4.2.9缺陷記錄對(duì)于密集缺陷4.2.9.2的標(biāo)準(zhǔn)其他鍛件應(yīng)記錄大于或者等于φ3當(dāng)量直徑的密集區(qū),綜上看 甲方觀點(diǎn)是正確的
4. JB/T4730.3-2005-4.2若干條規(guī)定，單個(gè)缺陷，密集區(qū)缺陷，底波降低量的記錄是說(shuō)允許這些缺陷存在或不允許存在而進(jìn)行的記錄，是評(píng)定缺陷等級(jí)的依據(jù)，這種說(shuō)法對(duì)嗎？
是

總體來(lái)看 甲方觀點(diǎn)在標(biāo)準(zhǔn)上有事實(shí)和理論根據(jù), 根據(jù)您的描述
在檢驗(yàn)中發(fā)現(xiàn),在100mm×150mm范圍內(nèi),存在密集區(qū)缺陷。其反射波幅超過(guò)φ2mm當(dāng)量基準(zhǔn)反射體波高12～14dB，缺陷當(dāng)量均在φ2～3mm范圍之內(nèi)。
該缺陷 顯然是符合JB/T4730.1-2005-3.16關(guān)于 密集缺陷的定義的  但是根據(jù)判定標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定 顯然不符合 JB/T4730.3中4.2.9.2 其他鍛件應(yīng)記錄大于或者等于φ3當(dāng)量直徑的密集區(qū)的 要求 如果乙方無(wú)法證實(shí)該密集缺陷的最大當(dāng)量大于φ3mm則該缺陷則不能作為不合格的依據(jù)  

我想表達(dá)我們對(duì)超聲缺陷的分類中，點(diǎn)狀和有尺寸的顯示分別不清，但其危害性大不相同！