關于鍛件外圓斜探頭檢測

本人在鍛件檢測中發現：外圓用(2.5M，4M)斜探頭檢測時光潔度低的情況下R≤12.5近表面的雜波比較多，感覺不好探，請問外圓光潔度多少適合檢測

與頻率、晶片尺寸、耦合劑類型和耦合壓力有關！以上情形采用低頻探頭進行檢測。

標準上超聲檢測一般要求表面光潔度Ra不低于6.3 微米。

可以考慮軟膜、低頻探頭進行檢測。

我感覺和光潔度關系不是太大吧，主要是曲率、耦合效果等因素影像的。

1：主要是曲率，你可以使用小晶片探頭檢測。
2:查鍛件正火沒有。