關(guān)于試塊問(wèn)題

不知道大家有沒(méi)有碰到過(guò)天天要用的試塊（一組同一材質(zhì)同一廠家不同厚度），在用低頻探頭測(cè)厚度時(shí)達(dá)某一基準(zhǔn)波高（例如80％）能用，而用高頻探頭測(cè)厚時(shí)卻發(fā)現(xiàn)厚的能測(cè)（例如220mm）薄的測(cè)厚時(shí)都衰減了（例如110mm），只有時(shí)基線(xiàn)顯示。整個(gè)測(cè)試過(guò)程分貝值沒(méi)變。請(qǐng)問(wèn)大家這組同材質(zhì)不同厚度的長(zhǎng)橫孔試塊我該用什么方法來(lái)解決現(xiàn)場(chǎng)實(shí)際探傷的校準(zhǔn)（長(zhǎng)橫孔探傷校準(zhǔn)）？