相控陣檢測，能量接收的疑問

浩瀚 發表于 2015-1-28 14:27
我把問題再整理一遍。掃描方式以S掃描方式為例（探頭中所有晶片都被激發，只是激發時間不同，所有聚焦法則 ...

1，當缺陷恰好處在聚焦法則的焦點的位置，回波會被所有活動孔徑的晶片接收，而且是同時接收
      （活動孔徑中所有晶片發出的柱面波同時撞擊到該缺陷）
        我想問一下， 這個接收時間點 與 發射下一組聚焦法則的時間點 ，哪個靠前？      
不是同時接收，各個晶片對于缺陷反射波的接收時間先后順序符合各晶片的激發時間，即先激發的晶片先接收。先接收再激發下一組聚焦法則，否則會產生幻象波。
2，當缺陷不在焦點的位置，比如缺陷在焦點的前邊，
     缺陷波是不是被所有的晶片接收？  接收時間點 與  下一組聚焦法則的發射時間點 哪個靠前？
被所有晶片接收，接收靠前，否則產生幻象波。

你可以把一個VPA當做一個常規單晶探頭。

個人理解：相控陣發出的超聲波是一個波束，不要將其視為一條條波束線。另外聚焦的目的是為了使焦點處的波束直徑盡可能的小，提高檢測靈敏度。但并不意味著焦點以外的缺陷不能被檢測，一個缺陷能不能被檢測要看這個缺陷是不是在探頭的擴散角內，如果在那么能被檢測，否則檢測不到。對于反射回波的問題，我認為超聲波在缺陷處的反射并不是鏡面反射，而是漫反射，不知道理解對不對，請給予指正

相控陣進行的是扇形掃查，它有一定的掃查范圍，您所說的可以通過調節掃查角度進行測量，并且他是雙側掃查，一側掃查不到，可以在另一側掃查