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縱波雙晶直探頭零偏測試，不會出現樓主所說的情況；高級數字機一般可以選擇峰值模式、前沿模式等測量。一般數字機閘門讀取采用的是前沿模式測量。無論采用哪種模式測量，只要模式不變，對檢測的影響很微小。
縱波雙晶直探頭零偏測試應注意方法，同時注意一次回波后變型回波以及聲速測試。
個人感覺調試零偏和聲速后，最好用另外一個試塊校核一下。

雙晶直探頭  從沒用過 想問下 雙晶探頭是不是 一定得用試塊調試

學習了........

SGS無損檢測 發表于 2014-1-21 21:27
我認為你說的那種儀器的V聲程補償應該是補償的是衰減，而不是雙晶探頭的非線性偏差，根絕ASME V對雙晶探 ...

不是衰減的補償，你說的是TVG（Time Varied Gain：隨時間改變增益）。

V聲程創建功能 用戶使用這項正等待專利通過的新功能可以為幾乎所有雙晶探頭創建一條自定義V聲程補償曲線。在為大多數雙晶探頭保存和調用自定義設置時，這條曲線也被同時保存和調用。

用戶只需校準并輸入已知厚度值（最小3個校準點；最大10個校準點），儀器就會創建V聲程補償曲線。

雙晶探頭在整個厚度范圍內，聲程和深度都是非線性的。對于這一點， 簡單的三角函數就可以理解。asme那樣的規定我想可能是因為厚度越小，非線性越嚴重所致。

糟老頭子 發表于 2013-12-31 21:37
我也沒見過那一款超聲波探傷儀有v聲程修正的功能，但我見過有的測厚儀有這個功能（如olympus的38DL），它 ...

我認為你說的那種儀器的V聲程補償應該是補償的是衰減，而不是雙晶探頭的非線性偏差，根絕ASME V對雙晶探頭性能介紹，在3mm一下雙晶探頭是非線性的，就是傳播時間不再和厚度成線性關系，而且聲程隨厚度的減小而相應的增大，但大于3mm以上是線性，對3mm一下的測量需要進行補償，這個補償是通過實測得出校正曲線進行實際補償。
校正曲線制作一般是用2試塊，一個接近測量最小值，一個接近最大值，然后校驗設備，校驗后再去測3mm范圍內的標準試塊，把偏差記錄做成厚度--偏差值的曲線，用于測量補償。

非常好。學習了

有思想

好好學習一下

學習了，還有些未理解，還要研讀

謝謝，學習啦{:soso_e160:}

非常好,學習了.