關于TOFD的表面盲區(qū)監(jiān)測

請教丁工，TOFD 的表面盲區(qū)標準推薦使用爬波進行檢測，可是按什么驗收，依照什么相關標準都沒有明確規(guī)定，即便是要做模擬試塊也不知道從何入手。請教丁工了。

TOFD+PAUT可否

luolang1314 發(fā)表于 2013-10-30 09:09
采用手工A掃，只會改善盲區(qū)漏檢，不能徹底解決TOFD盲區(qū)問題。交流磁粉檢測有效深度為外表面0-4mm,對于TOFD ...

學習了，怎么發(fā)放懸賞給指定人？

謝謝各位大俠，我至少了解到國內(nèi)現(xiàn)狀沒有使用爬波進行表面補償TOFD檢測的，希望哪位大大能夠提供國外的實例或標準或相關資料的線索，謝謝了。

就目前來講，比較實用的是手工UT+MT。

爬波可以解決此問題，但我國缺少相應的經(jīng)驗，不能照抄。可以采用手工超聲、相控陣或自動超聲進行解決。曾有人講采用磁粉檢測覆蓋，可能有點懸！

采用手工A掃，只會改善盲區(qū)漏檢，不能徹底解決TOFD盲區(qū)問題。交流磁粉檢測有效深度為外表面0-4mm,對于TOFD盲區(qū)問題，改善效果非常好，但磁粉檢測工藝控制水平?jīng)Q定了檢測效果。一般TOFD上表面盲區(qū)國產(chǎn)探頭0-10mm,遠比理論計算的要大，進口探頭上表面盲區(qū)也在0-6mm左右，而且和具體檢測工藝有關；手工超聲仍然存在上表面盲區(qū)，比TOFD盲區(qū)要小，但小多少，不知道。采用交流磁粉檢測補充TOFD檢測，至少4mm-8mm左右檢測不到，采用直流磁粉可以達到0-6mm左右吧。相控陣對于TOFD盲區(qū)改善效果比較明顯，但是檢測工藝、設備較為復雜！