帶多次底波法涂層測厚想到的超聲回波干涉的原理討論

記得在帶涂層測量工件的厚度時應用的多次底波法消去在涂層中傳輸的時間來取得工件的厚度，當時記得應該是有一個注意點，在涂層厚度小于超聲波的波長時，涂層中的聲波會有干涉/迭加發生以致在涂層與金屬母材界面不能形成清晰的回波。對于這個原理，我翻閱了特檢超聲教材（第二版），在書中有兩處提到了這一相似的問題，但對于具體的傳輸特性等并沒有詳細的信息。
大家有類似的關于聲波傳輸，介質，干涉/迭加等方面的資料可以參考？

這個是我偶而編輯的草稿，沒想一不留神點了發表，抱歉各位！

gybway 發表于 2014-5-7 22:33
luo工，您好！
   能否請教一下測厚儀在不去掉涂層測量工件厚度的原理？例如http://www.ge-mcs.com/zh/ul ...

脈沖反射法的簡單示意圖如下，為明晰看清圖，傳輸路徑作了傾斜處理。由于涂層界面不能形成清晰的界面回波，故此不能用簡單的t=T1/v來處理，只能通過消去法處理。不知我的理解正確否？不當請指正！

gybway 發表于 2014-5-7 22:33
luo工，您好！
   能否請教一下測厚儀在不去掉涂層測量工件厚度的原理？例如http://www.ge-mcs.com/zh/ul ...

不去掉涂層測量工件厚度的原理并不復雜。只要超聲波能穿透涂層，利用二次回波聲時信息（前沿或波峰）減去一次回波聲時信息，然后乘以該材料的聲速，即可得到工件厚度。實際檢測中，也是利用該原理扣除耦合介質的影響的，所以原理并不復雜。
比較難以實現的是，對涂層信號進行分析，對探頭和儀器的分辨力要求比較高。我公司采用奧林巴斯的測厚儀，有三種測量模式。

gybway 發表于 2014-5-7 22:34
能否請教一下測厚儀在不去掉涂層測量工件厚度的原理？例如http://www.ge-mcs.com/zh/ultrasound/thicknes ...

假設涂層在探頭側，測量工件底面一次回波到二次底面回波即可

楓林晚 發表于 2014-5-6 08:23
沒搞明白樓主到底要啥

能否請教一下測厚儀在不去掉涂層測量工件厚度的原理？例如http://www.ge-mcs.com/zh/ultrasound/thickness-gauges/dm5e-series.html這款儀器的
涂層下的厚度測量功能

糟老頭子 發表于 2014-5-7 15:17
我以前做過這樣的實驗，并沒有用加持裝置，只是單純用手移動探頭的。水層距離可以觀察A掃描信號看出來的。
...

能否請教一下測厚儀在不去掉涂層測量工件厚度的原理？例如http://www.ge-mcs.com/zh/ultrasound/thickness-gauges/dm5e-series.html這款儀器的
涂層下的厚度測量功能

luolang1314 發表于 2014-5-5 19:57
當涂層厚度小 于一較薄值時，這時候聲波的傳輸會出現非線性變化，且能量分布也會變得與較厚介質不一樣。所 ...

luo工，您好！
   能否請教一下測厚儀在不去掉涂層測量工件厚度的原理？例如http://www.ge-mcs.com/zh/ultrasound/thickness-gauges/dm5e-series.html這款儀器的
涂層下的厚度測量功能

我以前做過這樣的實驗，并沒有用加持裝置，只是單純用手移動探頭的。水層距離可以觀察A掃描信號看出來的。
之前做的是有機玻璃塊和碳鋼之間遇到水層的反射情況，沒有用同聲阻抗的材料測試。
有機會我再做下這個實驗，然后發布到論壇上供大家參考。

上述實驗有一點忘記說了：請使用帶延遲塊的探頭，觀察波形時要觀察延遲塊的底面回波和水與工件的上表面回波。

建議樓主如果有條件了做一下如下的實驗，可能會有助于理解：
找一個高頻窄帶探頭，一臺可以選擇射頻模式的探傷儀，一個表面光滑且沒有涂層的小鋼塊，準備一盆水（工件表面距離水層上表面大約10mm）。
把工件放入水中，連接上探頭，調節好儀器，把探頭放到工件表面開始觀察水與工件的界面回波，探頭慢慢遠離工件。。。
這樣對于理解你的問題可能有幫助