相控陣直探頭檢測-靈敏度的選擇

  今天在做相控陣直探頭檢測T=20mm平板，發現一個問題：
1、隨著增益調大時，在B型圖像上出現了許多缺陷，通過看深度數值 都小于20mm， 該怎么去區分真實缺陷和未缺陷呢？？

{:soso_e163:}

看高手之間的對話可以學到好多啊~~~

Ansan 發表于 2013-5-23 11:28
首先一點相控陣能定量！但是目前的技術只是利用演變下來的TCG進行定量。
但是它比常規超聲復雜性強，存 ...

工件中，不可能是完美無瑕的，都或多或少存在一些不連續，這些不連續也可能會在檢測圖像（如你說的扇形掃描）上體現出來。
這是很正常的現象啊

天道酬勤 發表于 2013-5-30 11:42
好激烈啊 樓主你是用的奧林巴斯的儀器嗎？

不是！！用的是汕頭研究所的！！

好激烈啊 樓主你是用的奧林巴斯的儀器嗎？

{:soso_e100:}

糟老頭子 發表于 2013-5-23 09:10
你覺得相控陣不能定量嗎？

首先一點相控陣能定量！但是目前的技術只是利用演變下來的TCG進行定量。
但是它比常規超聲復雜性強，存在的幾何形狀相關圖示很多。   這就需要深入研究相控陣的原理（特別是在聲束上）+常規超聲反射和折射原理，綜合考慮才能不引起誤判。
所以在你提出的僅僅依據“根據DAC”來判定缺陷，這是我不附議的原因所在。
再舉個例子：
   假如使用直探頭檢測平板，發現了靈敏度的偏低的相關圖示，經過參考了深度數值，相關圖示是在板材內，但是波幅比我們預定TCG的波幅低。。
  但是我們并不能說明缺陷，不存在。

Ansan 發表于 2013-5-22 23:38
我不敢茍同！
相控陣技術，存在許多幾何缺陷，類似柵瓣！
你覺得用‘檢出界限’來判別真實缺陷和未缺陷 ...

你覺得相控陣不能定量嗎？

Ansan 發表于 2013-5-22 23:38
我不敢茍同！
相控陣技術，存在許多幾何缺陷，類似柵瓣！
你覺得用‘檢出界限’來判別真實缺陷和未缺陷 ...

本來就是這樣判斷的，你看常規超聲做定量曲線（dac dgs），一樣的