儀器的掃查靈敏度不變，改換不同頻率探頭,...

    例如，原來的掃查靈敏度是頻率為2.5MHz的直探頭，發現缺陷當量為2mm;后來換成2MHz或1.25MHz，但距離波幅曲線未變(還是2.5MHz探頭的)，儀器的掃查靈敏度未變(發射強度，增益衰減等狀態未變)。請問: 檢測結果---缺陷當量，可能會出現什么變化呢？(謝謝下面這位朋友，根據他的回復，我進行了修改)

李濟科 發表于 2013-3-18 16:13
我發這個帖子的目的，是想討論另一個帖子提出的問題。另一個帖子，即kgkevin 先生的帖子《直探頭頻率大小對 ...

我換不同頻率探頭的時候，AVG曲線是按照當前探頭分別制作的。

{:soso_e163:}

注意探頭標稱頻率和實際頻率的差異！

李工，你好，我在實際工作中經常碰到這種問題，對同一個自然缺陷，用B2S和B4S分別定量，結果都是B2S定出的當量大。而你的題目，頻率變小，接收到的信號會變大（至少用B2S和B4S是這樣的），我想應該是衰減的問題，最終當量會變大。

如果每個直探頭都有自己的AVG曲線，雖然它們頻率大小不同，但對同一個缺陷按回波波幅定量的話，應該不會有大的差別。這是UT的一條基本知識。

今天我又發現了上次類似工件，但是不同的缺陷，但拿2.5MHZ和2MHZ分別制作曲線評定缺陷當量的時候，當量差不多。
  我感覺不同頻率的探頭對一個實際存在的缺陷當量衡量的時候，應該差別不大。尤其是平底孔試塊，應該不會因為頻率改變，改變平底孔當量大小。否則2MHZ和2.5MHZ探頭就無從選擇了。

我發這個帖子的目的，是想討論另一個帖子提出的問題。另一個帖子，即kgkevin 先生的帖子《直探頭頻率大小對鍛件缺陷當量的影響》。

楓林晚先生的觀點，基本正確。希望去查查平底孔反射聲壓公式，詳細說明。

是不是跟計算公式有關系

謝謝以上朋友參與討論！尤其謝謝楓林晚先生的實驗！！關鍵問題是:怎么用理論來解釋他這個實驗？