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          [討論] 探頭的入射點,真的在探頭上么?

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          查看59952 | 回復52 | 2013-3-10 06:28:06 | 只看該作者 回帖獎勵 |正序瀏覽 |閱讀模式
          如題。
          推薦
          李濟科 | 2013-3-10 10:41:58 | 只看該作者
          本帖最后由 李濟科 于 2013-3-10 18:48 編輯

              謝謝劉先生參與討論。我常形容這個問題,類似個成語刻舟求劍。探頭上的標識的入射點,實際上是過該點,通過耦合層,作工件表面的垂線,找到與工件表面的交點,或者說,是掃查面上的相應(yīng)點,那才是真的進入工件表面的入射點(請原諒,話說羅唆了)。如果聲束向左下發(fā)射,而探頭上真的入射點,應(yīng)在實測入射點的右方,兩點有微小差距p,p與耦合層厚度和聲束傾斜角度有關(guān)。不知這樣理解對否?
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          55#
          hao010ye | 2018-2-26 15:50:18 | 只看該作者
          對于水浸法影響大點
          54#
          楊會敏 | 2018-2-23 14:32:39 | 只看該作者
          入射點是聲束從探頭出來后通過耦合層后到達工件表面的那部分區(qū)域
          53#
          楊會敏 | 2018-2-23 14:30:52 | 只看該作者
          探頭上應(yīng)該是出射點,它也不是一個點,而是一個區(qū)域
          52#
          阿東 | 2014-2-19 08:36:20 | 只看該作者
          不錯,學習了。
          新手前來學習
          50#
          guoguo | 2014-2-8 15:19:11 | 只看該作者
          {:soso_e163:}
          49#
          ngdyp | 2014-2-6 20:35:37 | 只看該作者
          在工件表面
          48#
          88518 | 2014-2-4 00:33:41 | 只看該作者
          老李過慮,入射點應(yīng)該在工件表面,耦合層可以不考慮,否則測量的誤差就大了。
          47#
          春華秋實 | 2014-1-26 09:53:49 | 只看該作者
          向各位學習了
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