關于TOFD檢測中 A掃描波幅的作用

關于TOFD檢測中 A掃描波幅的作用是什么? TOFD檢測中，A掃描的波幅有什么作用呢，在各種資料里都沒找到，個人感覺的也不是很準確，請專家來解釋一下啊。。

{:soso_e163:}

看過，和樓上眾多高手想法一致

{:soso_e183:}

用得不多，純屬路過學習。。。

我理解為3個用途：1、識別缺陷。2、分析缺陷性質(zhì)。3、校驗系統(tǒng)靈敏度。

個人認為TOFD 的A掃描波幅的主要作用在于：
1。靈敏度確定
   靈敏度確定主要是給一個波幅的參考基準，證明類似缺陷的檢測能力，但這個靈敏度并不是是否對缺陷進行評定的標準，只是說按照經(jīng)驗或其他試驗的結(jié)果，該靈敏度下對預期檢出的缺陷均能有較為清晰的顯示。luoliang指的TOFD試塊上深度不同孔徑不同，主要原因應該是由于深度較大時需要用到較小的頻率，低頻探頭的波長較大，檢測能力有限。
2。進行精確定位及定量
   如是通過第一個波峰進行深度測量及缺陷高度測量，那么A掃描顯得更有意義，因為在灰度圖上不易找到波峰的位置，測量不如A掃描精確。
3。定性
   所謂定性，更多的可能是分析波的來源更像是衍射或反射，若缺陷波存在波幅很高的部分，那么它肯定存在比較好的反射條件，換言之，存在與檢測面平行的缺陷特征，裂紋的可能性就較小。等等這些可能需要在實際工作中多多積累，畢竟我們的TOFD技術(shù)才剛剛起步，需要大量的現(xiàn)場經(jīng)驗。
   以上僅是個人意見，僅供參考，歡迎批評！

學習了！看看還有哪位高手來說說！

TOFD定量實際涉及到基準靈敏度的問題。也即是類似于傳統(tǒng)A掃的fai 3的缺陷是不允許的。也即TOFD有一個門檻低于多大的缺陷（當量）是可以i不算的。在實際檢測當中，普通A掃（fai 1×6）評定線（測長線）左右的缺陷，在TOFD檢測當中會檢測出來。當然，具體缺陷評定，和缺陷深度、長度有關。TOFD定量更像是一個相對的概念。

TOFD在宣稱當中的確說到，端角衍射的原理不是像傳統(tǒng)6dB法或20dB法測長、測深。我說的定量不是指這個。就拿橫通孔為例，TOFD檢測當中，既有反射和衍射波打到橫通孔上，同一深度，不同孔徑的橫通孔得到的反射和衍射信號疊加后，也會在波幅上反應出來。具體的依賴關系，可能沒有人做實驗，但是孔徑大的對應的A掃波幅較高，一般還是成立的（在實際當中，由于缺陷的性質(zhì)、指向等，可能不遵循此規(guī)律）。不然，TOFD試塊就不會采用逐漸增大的孔徑來進行深度補償了；同一孔徑，不同深度，類似于傳統(tǒng)A掃定量也是有一定對應關系的，（較傳統(tǒng)A掃的對應規(guī)律可能復雜一些）
一般來說，缺陷波幅較高，缺陷較大、較嚴重，在D掃上就是顏色較深，對比較強烈的，缺陷一般較大、
TOFD評定當中，條形缺陷定量是根據(jù)缺陷的自身高度以及缺陷長度（相對一定的板厚）來評定的，這個看起來對波幅是沒有關系的。
而傳統(tǒng)A掃當中，定量是孔徑大小及缺陷長度（依據(jù)橫通孔（fai 1*6，fai2*20等）聲壓反射定律）來間接反應的。兩者不是同一個概念。
TOFD評定當中對于氣孔，是依據(jù)數(shù)量多少定量，卻沒有其大小的規(guī)定，對氣孔比較寬大，這一點有點不合理。而ASME RT檢測當中對于深孔是不允許的，只能說每種檢測手段都是有其優(yōu)缺點的。