一般缺陷為何有端點(diǎn)反射？

缺陷測(cè)高通常采用端點(diǎn)反射法，缺陷端部有朝向聲束的頂角么？為什么會(huì)有反射條件呢？

謝謝丁工鼓勵(lì)！對(duì)的，反射回波應(yīng)比衍射波強(qiáng)一些。同意丁工意見(jiàn)，同意修改橫孔孔徑！再次向丁工表示敬意！

李老，謝謝支持！
又回到了老問(wèn)題，呼吁焊縫檢測(cè)參考試塊標(biāo)準(zhǔn)孔改用3mm橫通孔！！！
理由：小于1.5倍波長(zhǎng)直徑的橫通孔，回波特性為衍射為主，而非反射特性！！！在日常檢測(cè)中，主要檢測(cè)面狀不連續(xù)，理應(yīng)建立面狀反射體大小與回波波幅的關(guān)系；否則使用短橫孔，個(gè)人認(rèn)為是模擬的點(diǎn)狀或小直徑的條狀渣類(lèi)不連續(xù)。
同樣短橫孔的回波特性與反射體長(zhǎng)度無(wú)關(guān)，實(shí)際工作中可能出現(xiàn)細(xì)長(zhǎng)的反射體回波波幅超標(biāo)--聲束直徑遠(yuǎn)大于6mm時(shí)（測(cè)長(zhǎng)不超標(biāo)），但射線檢測(cè)合格的矛盾。

謝謝李老的認(rèn)同！
個(gè)人意見(jiàn)可能不正確，但能遇到有共同觀點(diǎn)的老前輩是我們檢測(cè)人的榮幸！

最終答案:贊同丁偉臣先生意見(jiàn)，即通常情況下，應(yīng)該是衍射波;但缺陷端點(diǎn)粗糙不平時(shí)，也可能產(chǎn)生反射波。

眾多文獻(xiàn)中，回避該問(wèn)題，僅用回波特性或橫通孔對(duì)入射波的散射特性。個(gè)人認(rèn)為：根據(jù)惠更斯原理，衍射波也好，反射波也好，是眾多子波的合成，在反射面較光滑和足夠大（與波長(zhǎng)比）主要體現(xiàn)反射特性，否則，主要體現(xiàn)衍射特性。
所以，國(guó)外標(biāo)準(zhǔn)要求橫通孔反射體的直徑至少為1.5倍的波長(zhǎng)。

丁工:你好！看了回波模擬狀態(tài)圖。這個(gè)圖很珍貴，謝謝！我也許看不明白:45度斜探頭掃查直徑2mm通孔，怎么不見(jiàn)入射波指向橫孔中心的反射回波呢？似乎缺少這樣的瞬間！！難道單斜探頭接受橫通孔的回波，也成了衍射波嗎？你是否想說(shuō)明:橫孔大多數(shù)情況下是發(fā)射衍射波？

李老，你好！
請(qǐng)?jiān)谖蚁鄡?cè)中查看 6mm直徑2.5MHz45度斜探頭2毫米橫通孔回波狀態(tài)模擬圖：
http://m.jinlidl.com/home.php?m ... album&picid=330

謝謝丁工參與討論，發(fā)表了很好的意見(jiàn)！但我直覺(jué)認(rèn)為:問(wèn)題一應(yīng)是反射波，似乎聲壓遠(yuǎn)高于衍射波。但我又沒(méi)有試驗(yàn)手段，說(shuō)不出什么道理來(lái)。不知強(qiáng)總他們可否進(jìn)行仿真演示？如可仿復(fù)演示，結(jié)果就可信了。

問(wèn)題一：
TOFD法端點(diǎn)產(chǎn)生衍射，如資料〔1〕第3頁(yè)圖1.3。我的問(wèn)題是:將TOFD的發(fā)射探頭用單收發(fā)斜探頭代替，那么，這個(gè)單單收發(fā)斜探頭，它接受的信號(hào)，是端點(diǎn)反射波呢，還是端點(diǎn)衍射波？
衍射波
問(wèn)題二：
缺陷測(cè)高通常采用端點(diǎn)反射法，缺陷端部有朝向聲束的頂角么？為什么會(huì)有反射條件呢？
該方法是缺陷測(cè)高的一種方法，主要用于鑄件中缺陷的測(cè)高，其假設(shè)條件是缺陷的表面是粗糙的，總有反射回波可被探頭接收到。

    這個(gè)問(wèn)題，我在“高新技術(shù)”部分，用另一種方式提出來(lái)了，等待仿真試驗(yàn)或?qū)＜掖饛?fù)。問(wèn)題如下:

    關(guān)于TOFD法的又一個(gè)疑問(wèn)

      TOFD法端點(diǎn)產(chǎn)生衍射，如資料〔1〕第3頁(yè)圖1.3。我的問(wèn)題是:將TOFD的發(fā)射探頭用單收發(fā)斜探頭代替，那么，這個(gè)單單收發(fā)斜探頭，它接受的信號(hào)，是端點(diǎn)反射波呢，還是端點(diǎn)衍射波？

資料〔1〕:強(qiáng)天鵬主編.衍射時(shí)差法(TOFD)超聲檢測(cè)技術(shù)(2011)