關于s掃

S掃描是扇形掃描，包含一個角度范圍，如對于直楔塊一般為-30度到30度、斜楔塊一般為40度到70度。看看下圖你可能會明白儀器是如何實現角度偏轉并聚焦的。

1000i沒有動態深度聚焦的功能，儀器的聚焦只是針對某一特定深度

奧林巴斯的儀器沒有動態聚焦的，在聚焦深度選項中輸入一定值，在理論上這個就是相控陣S掃的聚焦深度。通常在實際檢測過程中用一次波掃查設置一倍板厚，二次波掃查設置2.2倍板厚。

為人民服務 發表于 2013-12-30 21:08
奧林巴斯的儀器沒有動態聚焦的，在聚焦深度選項中輸入一定值，在理論上這個就是相控陣S掃的聚焦深度。通常 ...

“通常在實際檢測過程中用一次波掃查設置一倍板厚，二次波掃查設置2.2倍板厚。”
為什么？有什么根據嗎？

糟老頭子 發表于 2013-12-31 09:10
“通常在實際檢測過程中用一次波掃查設置一倍板厚，二次波掃查設置2.2倍板厚。”
為什么？有什么根據嗎？ ...

培訓的時候老師將的，呵呵。目前沒有相關的標準

為人民服務 發表于 2013-12-31 17:57
培訓的時候老師將的，呵呵。目前沒有相關的標準

我認為在相控陣檢測中，如果不是針對某一個深度進行針對性的檢測，應把聚焦深度設置的足夠大（例如500mm），以便于聲束不會出現明顯的在焦距外的衰減情況。

糟老頭子 發表于 2013-12-31 21:32
我認為在相控陣檢測中，如果不是針對某一個深度進行針對性的檢測，應把聚焦深度設置的足夠大（例如500mm ...

我測試焦距設置大會影響缺陷的波高。我測試的方法是：采用相控陣B型試塊，有一排10mm等深度的橫通孔，焦距分別設置到10mm，15mm，30mm，探頭不移動，只改變焦距大小，同一橫通孔的波高變化比較大的。理論上講10mm聚焦深度波高最高，30mm聚焦深度波高最小。實際也驗證這樣的結果，所以我認為檢測過程中要合理設置聚焦深度。