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          如何理解JB/T4730.10 對比試塊厚度分區(qū)?

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          查看20664 | 回復10 | 2011-4-4 18:25:41 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
          本帖最后由 xcb526 于 2011-7-15 08:15 編輯

             NB/T47013.10-2010(JB/T4730.10)規(guī)定,TOFD對比試塊中反射體的形狀、尺寸、數(shù)量至少應滿足附錄B(規(guī)范性附錄)的規(guī)定。而在該附錄中第B.3 c)這樣描述:在每個厚度分區(qū)包含2個尖角槽,其寬度最大值為W(見表B.2),長度不小于40mm;或為側(cè)孔,其直徑最大值為Dd(見表B.2),長度最小值L和深度有關(guān),見表B.4。    我的問題是:“每個厚度分區(qū)”怎么理解?
          一、按標準表1中檢測分區(qū)數(shù)理解共有5個厚度分區(qū):50mm以下、50-100mm、100-200mm、200-300mm、300-400mm
              如果是這樣,對于厚度為62mm的對比試塊,尖角槽或側(cè)孔的加工位置深度為0-50mm的1/4處即12.5mm處、3/4處即37.5mm處各加工一個反射體,50-62mm的1/4處即53mm處、3/4處即59mm處各加工一個反射體,共4個。
              如此一來,加上B.3的a)、b)款要求,該試塊需要加工6個人工反射體。
          二、按標準表1中的深度范圍來理解,對于厚度為62mm的對比試塊,尖角槽或側(cè)孔的加工位置深度為0~2/5T(0~24.8mm)、2/5T~T(24.8~62mm),則在24.8mm的1/4(6.2mm)處、3/4(18.6mm)處以及62mm的1/4(34.1mm)處、3/4(52.7mm)處各加工4個人反射體。
              如此一來,加上B.3的a)、b)款要求,該試塊也需要加工6個人工反射體。
              以上哪種理解對?還是有別的理解?請各位專家指導。
          沙發(fā)
          xcb526 | 2011-4-10 20:38:12 | 只看該作者
          只有人看,沒有人回答嗎?
          板凳
          強天鵬 | 2011-4-11 13:45:58 | 只看該作者
          國內(nèi)對TOFD試塊的認識有一點亂,包括對比試塊和模擬試塊,都是如此。
          關(guān)于對比試塊的厚度,厚一點或薄一點,都是可以用的。孔的位置,在24mm、25mm,或是28mm,也都可以用的。各項尺寸并不要求那么精確,只要能有效地進行校準就可以。
          新年祝辭:兔年降臨,萬象更新!目標遠大,前程光明!財富茂盛,日進斗金!事業(yè)興隆,步步高升!健康身體,和諧家庭!祝您 新的一年事事順心!
          地板
          xcb526 | 2011-4-11 15:55:51 | 只看該作者
          首先,感謝強總!另外,請教:
              前幾天我在設計T=62mm的平面對比試塊時,按附錄B.3,設計了3個同一側(cè)的側(cè)孔:
          a  15.5mm處一個長45mm的Φ2.5mm側(cè)孔;
          b  31.0mm處一個長60mm的Φ3.0mm側(cè)孔;
          c  46.5mm處一個長75mm的Φ4.5mm側(cè)孔。
          另外一側(cè)4mm處設計了一個長300mm的Φ2.0mm側(cè)孔
          及中心設計了一個長50mm寬0.5mm深2mm的開口槽。


          這樣的設計符合要求嗎?
          5#
          xcb526 | 2011-4-11 16:01:06 | 只看該作者
          這樣的話,a、b、c側(cè)孔無論從哪一面來探測,深度是一樣的:
          a  15.5mm處一個長45mm的Φ2.5mm側(cè)孔;則從另一面探其深度為62-15.5=46.5mm同c。
          b  31.0mm處一個長60mm的Φ3.0mm側(cè)孔;則從另一面探其深度不變?yōu)?1.0mm。
          c  46.5mm處一個長75mm的Φ4.5mm側(cè)孔。則從另一面探其深度為62-46.5=15.5mm同a。

          這樣是否滿足要求?是否合理?
          6#
          xcb526 | 2011-4-11 16:06:04 | 只看該作者
          本帖最后由 xcb526 于 2011-4-11 16:09 編輯

          如下圖:

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          7#
          李濟科 | 2011-4-11 17:47:29 | 只看該作者
          Xcb先生提的問題,恰是JB/T4730.10標準的一個疏漏,提得好!。因為該標準沒有任何一個地方標明“厚度分區(qū)”怎么規(guī)定,按表1第一列“工件厚度”來理解,它分了七個區(qū);表1第二列標的是“檢測分區(qū)數(shù)”,也不是厚度分區(qū)數(shù),按它來理解是五個分區(qū)。其它,同意強總意見。另外,我也希望讀者朋友多就工作中遇到的問題或?qū)δ称┪摹⑻影l(fā)表些意見,對與錯,都沒什么關(guān)系。
          8#
          xcb526 | 2011-4-11 21:01:14 | 只看該作者
          謝謝李先生!
          同時希望更多的專家學者參與討論!
          期待ing......

          9#
          ff99998888 | 2012-10-29 17:22:15 | 只看該作者
          強總說的對,深度精度不是要絕對要精確,在標準規(guī)定附近好測量加工就行!
          10#
          丁偉臣 | 2012-10-29 21:11:57 | 只看該作者
          在TOFD校驗中,除了靈敏度設定外,應更加檢測級別要求進行相應的校驗或驗證,如:
          1、采用標準試塊,通過已知精確厚度進行深度校準,一般薄板要求進度小于0.5mm;
          2、采用對比試塊(與被檢測厚度相當,具體按照被執(zhí)行標準規(guī)定)進行掃查驗證上下表面盲區(qū)、分區(qū)的覆蓋和相應孔或槽等參考反射體的信號;
          3、根據(jù)標準要求,按照要求對模擬試塊進行掃查,通過要求顯示最小缺陷(主要按照ASME CASE 2235)進行缺陷檢出能力驗證。
          偉臣答疑回來啦!
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