關(guān)于新標(biāo)準(zhǔn)的IIA IIIA試塊問題。

新修訂的標(biāo)準(zhǔn)里面把IIIA放在了附錄O，現(xiàn)在出現(xiàn)問題就是IIA試塊在前面好多同學(xué)會(huì)以為IIIA的廢除了。
還有就是下面圖片中的問提。
在8~120范圍內(nèi)，IIA 跟IIIA的靈敏度是不是一樣。


新標(biāo)準(zhǔn)的IIA IIIA靈敏度




舊標(biāo)準(zhǔn)的靈敏度


對(duì)比發(fā)現(xiàn)只是厚度增加了。靈敏度加了比較厚的部分。

這里是不是可以理解為工件厚度8至120mm時(shí)優(yōu)先選用CSK-ⅢA試塊。

我想應(yīng)該是可靠性好，CSK-ⅡA試塊的反射孔長(zhǎng)40，容易調(diào)DAC，人的影響因素可能少些。CSK-ⅢA試塊我想目前大多數(shù)企業(yè)現(xiàn)有的，用的比較上手，但從發(fā)展趨勢(shì)看：05版CSK-ⅡA作為備選，15版主推，下版可能******會(huì)被淘汰的。
探頭的技術(shù)指標(biāo)也越來越重視，目前相同型號(hào)（頻率、晶片尺寸、角度）經(jīng)測(cè)試相差太大，廠家也不檢測(cè)就出廠。15版就重視了許多。
標(biāo)準(zhǔn)講求一致性，大家按標(biāo)準(zhǔn)做，結(jié)果應(yīng)該盡量一致。采用CSK-ⅡA從人員對(duì)比上可靠性好，探頭晶片尺寸大（如20*20）從人員對(duì)比上可靠性也比小晶片好，

補(bǔ)充：會(huì)被淘汰的是CSK-ⅢA試塊