關于斜探頭K值

“波束與被檢缺陷平面相垂直時，反射效果最好，最有利于缺陷的檢出。”
剛做超聲的時候，發現實際檢測和理論檢測還是有很大區別的。一開始發現有很多探頭的實測k值和標稱值不一致。后來聽同事說，這很正常。廠家批量生產的探頭，不可能有很高的精確度，都會有一定量的偏差。所以在調機器的時候，每次都需要測試實際的k值再做曲線。后來做得多了，發現k值超過正-2度，照樣還可以用。但是標準規定，如果實測K值超過標稱K值正負兩度，就不能再用（不是標準原文，因為同事都說K值變化超過兩度，一是磨探頭，一是丟棄，所以認為是不能用）。一直對這一句話不太理解。一開始認為，如果超過正-2度。可能波束與缺陷的角度會有較大的變化。導致反射效果急劇下降，造成漏檢。后來隨著對超聲波束的認識加深。發現這一解釋不符合實際。超聲波束會有一定的上下擴散角。假如某一缺陷與70度波束垂直，實測為68度的波束會有70的上擴散角與缺陷垂直。因為是擴散角檢測到，波高會低一些。但不會沒有反射。

后來查找資料，發現探頭角度也不是固定的（剛入行的菜鳥，以為就標準規定的幾個探頭）。現在我們公司做的產品，都是用45、60、70度的探頭。其他行業有以K值標稱的1、1.5、2、2.5、3等。看到比較早的資料有50、55度的探頭。分析最基本的知識，“波束與被檢缺陷平面相垂直時，反射效果最好，最有利于缺陷的檢出”。今天又看了11345-2013和4730-2005發現兩者表述還不太一樣，再看新版的47013-2015發現沒有說正負兩度差值，是不是這個已經不重要了？


那么以前標準規定不能超過正負兩度的意義是什么？（以下為個人猜想）



按標準，每次檢測前需要校儀器的靈敏度、K值、水平線性等。單說K值，現在的數字機儀器可以生成DAC。但做好DAC后，K值是不變的了。由于磨損，實際K值改變后，對缺陷的定量、定位都會出現偏差（DAC曲線還是按以前的K生成的）。而這個偏差的極限就是正負兩度。比如，實測為70度的探頭，做好DAC用了一段時間后，實際角度變為68度，這時定位、定量就會有較大影響，必需重新做DAC（但探頭還是可以用的）。


無損檢測新人，望前輩多多指點。

有個觀點需要更正一下 ，標準規定探頭角度大于2度不是不能用，是需要重新校準，大于2度不代表缺陷不能檢出，主要是考慮定位、定量的誤差，會影響缺陷的判斷及評定

楓林晚 發表于 2016-8-4 00:28
有個觀點需要更正一下 ，標準規定探頭角度大于2度不是不能用，是需要重新校準，大于2度不代表缺陷不能檢出 ...

嗯，同意您的觀點。有您的支持我更加確定。一開始接觸標準時，沒有理解得透徹。問同事，他們也只是簡單說標準規定，時間久了就不滿足于這么表面的解釋，才有以上的思考過程。

這是美國D1.1規范的解釋：

規范對探頭使用（頻率、尺寸、角度）極為嚴格的要求是為了保持最佳狀況能使結果具可重復性。規范的意圖是用表6.6中規定的探頭角度和焊縫面來探查焊縫。而采用其他角度或焊縫面可能導致比規范規定的檢查更為苛刻。

斜波束探頭校準    由于探頭的接觸表面磨損并引起定位精度降低，規范要求探頭最多工作8小時便應校核其精度。此后每一段時間間隔內探頭精度校核的責任由進行此項工作的人員承擔。

按D1.1的要求，探頭角度超過偏差2度，就是不能夠用！我國過去的超聲波檢測標準中對探頭的要求，理解和執行都不深入。

王緒軍 發表于 2016-8-5 11:31
這是美國D1.1規范的解釋：

按D1.1的要求，探頭角度超過偏差2度，就是不能夠用！我國過去的超聲波檢測標準 ...

謝謝老師指點。現在才算是弄明白這個問題。

再看新版的47013-2015發現沒有說正負兩度差值，是不是這個已經不重要了？

你認真看看NBT47013.3

王緒軍 發表于 2016-8-10 10:28
你認真看看NBT47013.3

嗯，我又細看了一遍。在后面的規范性附錄里找到了。還加了一些要求

在附錄B里有對探頭的要求，可是我的一個單位領導要求探頭要磨出晶片才給換新的。K2的探頭校核后有時候都到了K1.5，想想真后怕。

JIAQIDONG 發表于 2016-12-27 08:11
在附錄B里有對探頭的要求，可是我的一個單位領導要求探頭要磨出晶片才給換新的。K2的探頭校核后有時候都到 ...

那磨損太嚴重了。我們一般測出K值偏差較大，就用砂布反向把耦合層磨平，角度偏差就減小，在偏差范圍內就繼續用

xldw89sy 發表于 2016-12-27 21:48
那磨損太嚴重了。我們一般測出K值偏差較大，就用砂布反向把耦合層磨平，角度偏差就減小，在偏差范圍內就 ...

兄弟哪個公司的