ghost 發(fā)表于 2012-11-13 21:38 ![]()
請問版主,PAUT相對于A超究竟有何優(yōu)勢?PAUT有國家標準嗎?在那些行業(yè)有行業(yè)標準? ...
個人覺得主要有以下幾點:
1. 數(shù)據(jù)可存儲,可記錄
2. 可多截面成像
3. 使用靈活性更大
我想這樣表述,不知道意思說的夠不夠清楚,PAUT可以看作是一個可在一定范圍內(nèi)隨意更改探頭參數(shù)的UT,并且可以把這些UT檢測結(jié)果通過固定的幾何關(guān)系進行數(shù)字化成像,方便判斷.甚至可以實現(xiàn)波束路徑的設(shè)計.
這里指的探頭參數(shù)包括波型,角度,晶片大小,聚焦點位置,探頭幾何位置等一系列內(nèi)容.
目前PAUT尚無國家標準,行業(yè)標準我也沒聽說,但ASME2010版第V卷中有部分描述.
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