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棒材的水浸超聲檢測是指將被檢棒材置于水中，使用水浸探頭來實(shí)現(xiàn)探頭與被檢棒材的非接觸式檢測。棒材是采用軋機(jī)將坯料軋制或經(jīng)過鍛造形成的半成品，棒材中的缺陷分為表面缺陷和內(nèi)部缺陷兩種。內(nèi)部缺陷是由鑄錠和坯料內(nèi)的缺陷在軋制過程中延展而成的，其主要為位于中心部位的縮孔和夾雜物，以及在棒材軋制過程中因這些缺陷產(chǎn)生的裂紋等；表面缺陷主要為裂紋、折疊等缺陷。
水浸超聲法檢測時，往往難以從超聲波形中判斷缺陷的位置、大小及深度，而無法判定后續(xù)加工中是否可以去除這些缺陷。這一難題該如何解決呢？我們以銅棒為例，來看看下面這種方法效果如何。
一 檢測工藝
檢測產(chǎn)品材料為銅，直徑為20 mm，長度在40~100 mm；檢測方法為水浸超聲法周向檢測；檢測設(shè)備為數(shù)字式超聲檢測儀和具有轉(zhuǎn)動裝置的水浸槽；采用5 MHz ?14 mm 水浸線聚焦探頭；對比試塊材料為銅，對比試塊尺寸和結(jié)構(gòu)示意如下圖所示：
圖1 用于周向檢測的對比試塊尺寸和結(jié)構(gòu)示意
產(chǎn)品驗收要求： ① 底面反射波的高度沒有明顯減小，位置沒有移動； ② 沿?zé)晒馄琳麄€掃描線分布的雜草狀反射波高比熒光屏滿刻度的80%小12 dB或更多； ③ 單個反射信號的波高不高于熒光屏滿刻度的50%，不明顯高于雜波高度。
二 檢測方法
采用水浸法周向檢測，探頭檢測對比試塊的方式示意如下圖所示：
調(diào)整偏離距離X（X≥R·CL水/CL銅；R為棒材半徑，10 mm；CL水為水的縱波波速，1480 mm/s，CL銅為銅的縱波波速，4700 mm/s），使得入射縱波在棒材中折射成純橫波。
調(diào)整水層距離和探頭軸與棒軸間的距離Y，使得棒材中的底波處在水和棒材上界面反射波的一次波與二次波中間，如下圖所示：
探頭偏離棒材中心距離X為3.5 mm，與棒材中心距離Y為30 mm，調(diào)整增益，使來自標(biāo)準(zhǔn)件中任一人工孔的反射波高度不低于熒光屏滿刻度的80%（見下圖），將增益+6 dB作為掃查靈敏度。
檢測時棒材旋轉(zhuǎn)，探頭沿軸向直線移動，在一次掃查完后，將棒材調(diào)轉(zhuǎn)方向，再進(jìn)行一次掃查。
由于在棒材中可能同時存在橫波和表面波，甚至縱波，由于各波速度不同，在熒光屏上會有反射波顯示。但由于棒材是軸對稱的，當(dāng)棒材旋轉(zhuǎn)時，這些波在顯示屏上的相對位置并不改變，而缺陷形成的缺陷波在顯示屏上的缺陷顯示位置隨著棒材的旋轉(zhuǎn)發(fā)生變化，所以容易與非缺陷顯示的反射波相區(qū)分。
三 試驗結(jié)果及分析
采用水浸超聲波檢測15根銅棒，均發(fā)現(xiàn)缺陷波顯示，當(dāng)裝置轉(zhuǎn)動時，缺陷波移動，其波形如下圖所示，且波高均超過80%。
隨機(jī)選擇一根有缺陷波顯示的銅棒，在有缺陷波顯示的位置做上記號，從中截取一段做金相檢驗，發(fā)現(xiàn)距棒材表面深0.23 mm的折疊，如下圖所示：
由于金相檢驗為破壞性試驗，剩余的試件做熒光滲透檢測，發(fā)現(xiàn)均有線性顯示，如下圖所示：
將剩余的14根發(fā)現(xiàn)缺陷波的銅棒均送至加工車間，將銅棒的表面加工掉0.5 mm，再做超聲波檢測，其中8根無缺陷波顯示，其波形與圖3類似，而其余6根依然有缺陷波顯示，其波形與圖5類似。將所有銅棒進(jìn)行熒光檢測，結(jié)果和超聲波檢測結(jié)果一致，8根無缺陷顯示，其余6根均在表面有線性顯示。
將檢測結(jié)果反饋給工藝員，工藝員最后決定將超聲波檢測和熒光檢測均合格的8根銅棒投入使用，檢測不合格的6根銅棒則報廢，不投入使用。
四 總結(jié)
超聲波水浸法檢測銅棒的結(jié)果可靠，且上盲區(qū)較小，可以檢測距銅棒表面0.2 mm的缺陷，但對缺陷進(jìn)行定位和定性檢測比較困難。因此當(dāng)發(fā)現(xiàn)缺陷顯示時，尤其是后續(xù)加工可以去除的缺陷，應(yīng)使用可以確定缺陷性質(zhì)及位置的檢測手段，如熒光滲透檢測、金相檢驗、磁粉檢測等，來確定缺陷位置和缺陷性質(zhì)。
本文作者：范艷霞，航空工業(yè)金城南京機(jī)電液壓工程研究中心 工程師，主要從事超聲波檢測、渦流檢測工作。 來源：《無損檢測》2018年第1期
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