征集相控陣問(wèn)題——遠(yuǎn)東論壇組織專(zhuān)家回復(fù)

為進(jìn)一步發(fā)展相控陣技術(shù)工藝和應(yīng)用研究，自即日起，在本欄目征集相控陣問(wèn)題，包括技術(shù)、工藝、探頭、設(shè)備、理論、檢測(cè)方案等各個(gè)方面的問(wèn)題均可提出。
遠(yuǎn)東論壇將選擇其中有價(jià)值問(wèn)題，組織和邀請(qǐng)國(guó)內(nèi)外專(zhuān)家進(jìn)行答復(fù)和討論交流。

強(qiáng)總，您好！ 指導(dǎo)您最近正在忙碌遠(yuǎn)東會(huì)議，問(wèn)題再這里先發(fā)出，您在有空之間煩請(qǐng)給予解答，謝謝！
相控陣技術(shù)實(shí)際上已經(jīng)在國(guó)內(nèi)外研究及應(yīng)用了很久，但是就目前來(lái)講還找不到任何一個(gè)國(guó)家相關(guān)相控陣技術(shù)給出了詳細(xì)、完整的檢測(cè)及驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)。視乎所有的標(biāo)準(zhǔn)都是針對(duì)設(shè)備校準(zhǔn)、檢測(cè)工藝制定，但是檢測(cè)工藝參數(shù)讓人琢磨不透，沒(méi)辦法按照標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容給出檢測(cè)工藝參數(shù)。那么現(xiàn)在唯一處理的方式就是：模擬驗(yàn)證。包括仿真驗(yàn)證和實(shí)際產(chǎn)品模擬試塊驗(yàn)證，只有驗(yàn)證后認(rèn)為合格的工藝方能用到被檢工件中。那么問(wèn)題1：真正制約相控陣技術(shù)發(fā)展，包括驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)的制定，工藝參數(shù)的給定等原因是什么？相控陣技術(shù)在各領(lǐng)域所表現(xiàn)出的優(yōu)勢(shì)已經(jīng)很明顯，難道就驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)問(wèn)題一致制約其應(yīng)用發(fā)展？
另外，就目前來(lái)說(shuō)各設(shè)備廠家相控陣設(shè)備的設(shè)計(jì)原理略有不同，一種是以TCG曲線為主，另一種通過(guò)DAC曲線+AVG曲線組合的方式，那么問(wèn)題2：哪種設(shè)計(jì)原理正確或者更有趨勢(shì)？
其次，就相控陣缺陷定性來(lái)說(shuō)，個(gè)人認(rèn)為首先應(yīng)跟常規(guī)超聲檢測(cè)缺陷定性對(duì)比，那么優(yōu)勢(shì)是必然的。尤其相控陣扇形掃查時(shí)，缺陷端面圖像形態(tài)，在區(qū)分面積型缺陷或者體積型缺陷方面有著重要意義。特別是變化角度進(jìn)步（角度分辨力）的調(diào)節(jié)，對(duì)于缺陷性質(zhì)的定性也有很大重要意義。其次，相控陣成像圖譜的缺陷定性與射線檢測(cè)對(duì)比，我個(gè)人覺(jué)得在不考慮缺陷檢出率的條件下，就缺陷定性而言，射線檢測(cè)優(yōu)勢(shì)肯定大于相控陣檢測(cè)。但是相控陣檢測(cè)在某些領(lǐng)域，尤其厚板領(lǐng)域，當(dāng)射線檢測(cè)難度較大，面積型缺陷檢出率較低的條件下，使用相控陣技術(shù)優(yōu)勢(shì)突出。
最后，相控陣檢測(cè)技術(shù)的可靠性是較高的，但是如何保證可靠性受人為因素影響較大。這點(diǎn)無(wú)論是常規(guī)超聲還是相控陣技術(shù)，人為因素（經(jīng)驗(yàn)）對(duì)于缺陷檢出能力及缺陷定性影響較大。為了保障相控陣技術(shù)成像效果（數(shù)據(jù)采集），ASME標(biāo)準(zhǔn)在重點(diǎn)強(qiáng)調(diào)自動(dòng)化或者半自動(dòng)化檢測(cè)，但是這點(diǎn)無(wú)疑制約了相控陣技術(shù)在行業(yè)的應(yīng)用。因?yàn)檫@種自動(dòng)掃查裝置到目前來(lái)說(shuō)沒(méi)有廣泛應(yīng)用，并且針對(duì)結(jié)構(gòu)形式復(fù)雜的構(gòu)件，可能需要多種掃查裝置實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化，這樣無(wú)疑導(dǎo)致曾本的增加。那么如何解決好這個(gè)問(wèn)題，對(duì)于相控陣成像的應(yīng)用啟關(guān)鍵作用。個(gè)人建議，能否提出一種耦合監(jiān)控條件，應(yīng)給出上限、下限。耦合太好，導(dǎo)致缺陷波幅夸大，耦合太差，導(dǎo)致缺陷漏檢。
強(qiáng)總，以上是個(gè)人對(duì)于相控陣技術(shù)的見(jiàn)解，難免有不合適之處，還煩請(qǐng)強(qiáng)總賜教！

先問(wèn)個(gè)問(wèn)題吧
缺陷測(cè)高的時(shí)候上下端的tip diffraction如何確定，這個(gè)是在PCN 的PHASE ARRAY考試的時(shí)候每個(gè)缺陷都要測(cè)定的參數(shù)之一，特別是坡口未融合。我個(gè)人沒(méi)什么經(jīng)驗(yàn)都是憑感覺(jué)，最后以老師說(shuō)的為準(zhǔn)。

強(qiáng)總：您好！

關(guān)于相控陣焊縫檢測(cè)的驗(yàn)收等級(jí)這一塊，國(guó)內(nèi)有相關(guān)團(tuán)隊(duì)在進(jìn)行實(shí)驗(yàn)研究嗎？傳統(tǒng)探頭是固定K值檢測(cè)，相控陣是多個(gè)角度檢測(cè)，同時(shí)相控陣的定量反射體通常是橫通孔反射強(qiáng)度與入射方向不敏感，所以會(huì)與常規(guī)探頭檢測(cè)到缺陷的當(dāng)量不一致。有專(zhuān)家提出相控陣的定量值可以作為參考，主要需要利用相控陣多維圖像來(lái)判斷缺陷的：長(zhǎng)度，高度，性質(zhì)等？大家有一起集中討論這些問(wèn)題嗎？

還有關(guān)于相控陣標(biāo)定試塊方面，我認(rèn)為ASME中提到的A型，B型試塊都有不完善的方面。上部可以做探頭晶片編號(hào)的測(cè)試，方便準(zhǔn)確的驗(yàn)證折射角度的準(zhǔn)確性。是否有相關(guān)的工作在進(jìn)行？

謝謝

強(qiáng)總你好，目前有沒(méi)有PE檢測(cè)試塊，目前有沒(méi)有相控陣在檢測(cè)燃?xì)釶E管道的實(shí)際應(yīng)用案例

NB47013.15相控陣超聲檢測(cè)進(jìn)展如何？聽(tīng)說(shuō)簽字了？

MENG 發(fā)表于 2017-2-22 09:52
先問(wèn)個(gè)問(wèn)題吧
缺陷測(cè)高的時(shí)候上下端的tip diffraction如何確定，這個(gè)是在PCN 的PHASE ARRAY考試的時(shí)候每個(gè) ...

可以看一本加拿大出版的技術(shù)專(zhuān)著PHASED AARRAY ULTRASONIC TECHNOLOGY，其中有較多篇幅談tip diffraction。另外就是通過(guò)實(shí)踐獲取心得和經(jīng)驗(yàn)。
我們正在編寫(xiě)的相控陣教材會(huì)涉及一些相關(guān)內(nèi)容。

M2M中國(guó) 發(fā)表于 2017-2-22 13:55
強(qiáng)總：您好！

關(guān)于相控陣焊縫檢測(cè)的驗(yàn)收等級(jí)這一塊，國(guó)內(nèi)有相關(guān)團(tuán)隊(duì)在進(jìn)行實(shí)驗(yàn)研究嗎？傳統(tǒng)探頭是固定K值 ...

關(guān)于相控陣焊縫檢測(cè)的驗(yàn)收等級(jí)，國(guó)內(nèi)似乎沒(méi)有專(zhuān)門(mén)研究。這個(gè)問(wèn)題國(guó)外也未見(jiàn)什么答案。

我的看法是：相控陣技術(shù)對(duì)缺陷定量有特殊性，缺陷定量不宜遵循常規(guī)超聲的方法。如果死板地跟常規(guī)超聲走，相控陣的優(yōu)越性將大打折扣。

yangyunsanlp 發(fā)表于 2017-3-17 21:45
NB47013.15相控陣超聲檢測(cè)進(jìn)展如何？聽(tīng)說(shuō)簽字了？

沒(méi)有那么快！第一版稿子好像還沒(méi)有提交。

目前的相控陣GB是參照常規(guī)超聲檢測(cè)定性、定量、定級(jí)。NBT47013.15會(huì)象TOFD那樣用圖像來(lái)定性嗎？

yangyunsanlp 發(fā)表于 2017-3-21 20:30
目前的相控陣GB是參照常規(guī)超聲檢測(cè)定性、定量、定級(jí)。NBT47013.15會(huì)象TOFD那樣用圖像來(lái)定性嗎？
...

相控陣數(shù)據(jù)判讀的缺陷定性，有不少?lài)?guó)外專(zhuān)家進(jìn)行了研究，但總體上還沒(méi)有成熟。