這種情況如何評(píng)定等級(jí)？

JB/T5000.15-2007術(shù)語和定義中規(guī)定：
單個(gè)缺陷：間距大于50mm，當(dāng)量直徑不小于起始記錄當(dāng)量的缺陷。
密集區(qū)缺陷：在熒光屏掃描線相當(dāng)于50mm聲程范圍內(nèi)同時(shí)有五個(gè)或五個(gè)以上缺陷反射信號(hào)；或在50mm*50mm檢測面上同一深度內(nèi)有五個(gè)或五個(gè)以上缺陷反射信號(hào)。


1.那么以II級(jí)為例子，假如有3個(gè)缺陷，深度在110~130mm范圍內(nèi)，當(dāng)量在2~3mm之間，屬于需要記錄的缺陷，但間距小于50mm，那這3個(gè)缺陷不滿足單個(gè)缺陷也不滿足密集區(qū)缺陷定義。。屬于何種缺陷？如果說是多個(gè)缺陷，又如何質(zhì)量分級(jí)？
2.再假設(shè)，有兩對(duì)缺陷，每對(duì)為3個(gè)（每對(duì)50mm*50mm檢測面），深度在110~130mm范圍內(nèi)，當(dāng)量在2~3mm之間。兩對(duì)缺陷間距如圖，又作何判定？

我認(rèn)為：
1.第1種情況按照3個(gè)單個(gè)缺陷評(píng)定，可評(píng)II級(jí)
2.第二種情況中：
     a：若兩對(duì)缺陷在同一垂直于主聲速的水平平面中，嚴(yán)格按照50×50矩形框來框定，之后評(píng)定；模棱兩可時(shí)，從嚴(yán)評(píng)定
    b：若兩對(duì)缺陷在兩個(gè)不相同的平面中（這兩個(gè)平面都垂直于主聲束），在嚴(yán)格確定者六個(gè)缺陷信號(hào)中的任意5個(gè)缺陷信號(hào)不會(huì)同時(shí)出現(xiàn)在熒光屏掃描線相當(dāng)于50mm聲程范圍內(nèi)時(shí)，即可按照6個(gè)單個(gè)缺陷評(píng)定。

我是外行，以上僅供參考

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我個(gè)人覺得碰到這種情況盡量定位缺陷類型以及對(duì)實(shí)際使用中是否有影響！

按4730，上圖無論何種情況都按單個(gè)缺陷評(píng)定