磁霍爾效應(yīng)儀是可以測(cè)量縱向磁場(chǎng)的,在ASTM E1444附錄部分有相應(yīng)說明,大概內(nèi)容如下:
對(duì)直徑或厚度一致的零件,除工件兩端部外,探頭可以放置在零件長(zhǎng)度上的任何位置,除兩端部外,因?yàn)榍邢蚩v向磁場(chǎng)在整個(gè)長(zhǎng)度上是一致的。這里除工件兩端部外是由于在端部正切磁場(chǎng)的檢查,在端部測(cè)量將產(chǎn)生讀數(shù)偏差。此外,應(yīng)避免在任何幾何變化處進(jìn)行測(cè)量,以免產(chǎn)生非相關(guān)漏磁。
縱向磁場(chǎng)與霍爾效應(yīng)探頭的主尺寸相垂直,垂直角允差<5°。應(yīng)進(jìn)行多次測(cè)量,以確保讀數(shù)一致。
如果被檢件的長(zhǎng)度大于線圈的寬度,霍爾效應(yīng)探頭可以放置在線圈內(nèi)或線圈附近。對(duì)于不同直徑/厚度的零件,應(yīng)采取多次測(cè)量,以確保所有檢查區(qū)域的最小測(cè)量值為30Gs。霍爾效應(yīng)儀適用于連續(xù)法,不適用于剩磁法檢測(cè)。 |