相控陣儀器如何進(jìn)行校驗(yàn)？

我們知道常規(guī)的A掃描超聲檢測(cè)儀器需要對(duì)其“水平線性，垂直線性，動(dòng)態(tài)范圍，盲區(qū)，分辨力，靈敏度余量”等進(jìn)行測(cè)試，以判斷儀器是否達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)。相控陣也是基于A掃描的原理，那么相控陣如何進(jìn)行校驗(yàn)?zāi)兀?nbsp; 校驗(yàn)的內(nèi)容是否也是上述幾種？ 或者還有其它校驗(yàn)的內(nèi)容？  請(qǐng)各位高手不吝賜教，謝謝

糟老頭子 發(fā)表于 2012-6-24 22:02
E SCAN :受教了；
VPA：只要是相控陣，都有VPA這個(gè)感念。S CAN中，是有固定的虛擬探頭孔徑（大多數(shù)相控陣 ...

VPA 只有L-SCAN才有  S-SCAN里面直接用角度度數(shù)命名  而不是VPA  你說(shuō)的16，32那個(gè)叫element  中文叫單元  VPA準(zhǔn)確的叫法是虛擬探頭窗口  A=Aperture中文翻成窗口  你可以去看看窗口和單元的關(guān)系  一個(gè)VPA可以由好幾個(gè)單元組成的  VPA可以看作是L-SCAN里面虛擬探頭   而不是探頭里面的單元   還有128 256那個(gè)叫channel 通道   這些都是基本概念   你要搞清楚才行

水平線性和垂直線性都是儀器的性能  所以  你只要用一個(gè)探頭校驗(yàn)就行了    你校驗(yàn)傳統(tǒng)儀器的線性會(huì)用45 60 70分別去校驗(yàn)一次么：）

至于探頭的性能  你只要觀察S-SCAN圖像不就好了 ？
至于那些分辨力的概念   你探頭放置的那個(gè)表面就是近表面  底面就是遠(yuǎn)表面  軸向和角度分辨力 你顧名思義就行了

綜合來(lái)看  你有些基本概念不夠清楚啊  ：）

這些都是很簡(jiǎn)單的問(wèn)題  你基本概念很清楚的話 很多問(wèn)題都迎刃而解了

特殊技術(shù)的儀器校驗(yàn)仍處于空白階段，好帖！支持！

你這么問(wèn)估計(jì)應(yīng)該沒(méi)怎么過(guò)PAUT吧
目前來(lái)說(shuō)
各家的儀器校驗(yàn)是不一樣的   不過(guò)  聲速  聲程  肯定是每個(gè)儀器都必須校驗(yàn)的  接下來(lái)  各家可能就不同了   
比如奧林巴斯 除了 聲程  聲速   還有 探頭延遲  靈敏度校驗(yàn)
SIUI 則是直接從S-SCAN的圖像來(lái)校驗(yàn)
你這種問(wèn)題問(wèn)了 沒(méi)什么太大意義   
你沒(méi)做過(guò)的話  跟你說(shuō)了 你也不明白的

happynation 發(fā)表于 2012-6-22 21:18
你這么問(wèn)估計(jì)應(yīng)該沒(méi)怎么過(guò)PAUT吧
目前來(lái)說(shuō)
各家的儀器校驗(yàn)是不一樣的   不過(guò)  聲速  聲程  肯定是每個(gè)儀 ...

我說(shuō)的不是校準(zhǔn)，請(qǐng)注意：是校驗(yàn)  是對(duì)機(jī)器性能的檢驗(yàn)

糟老頭子 發(fā)表于 2012-6-23 15:06
我說(shuō)的不是校準(zhǔn)，請(qǐng)注意：是校驗(yàn)  是對(duì)機(jī)器性能的檢驗(yàn)

暈死
第一次聽(tīng)到 還有校準(zhǔn)和校驗(yàn)兩個(gè)屬于的區(qū)別   麻煩你解釋一下他們各自的定義吧
校驗(yàn)只包括 儀器性能？  探頭性能如分辨力  波束等不需要校驗(yàn)的 ？
按照ASME的規(guī)定在PAUT里面是需要校驗(yàn) focal law（探頭聚焦規(guī)則）的
奧林巴斯的探頭延遲校驗(yàn)和靈敏度校驗(yàn)就是對(duì)聚焦規(guī)則的校驗(yàn)   
而SIUI 則沒(méi)有這兩個(gè)步驟  他聚焦規(guī)則校驗(yàn)是直接通過(guò)計(jì)算然后對(duì)具體圖像進(jìn)行校驗(yàn)
目前PAUT的聚焦規(guī)則校驗(yàn)  也就是一說(shuō)   規(guī)范要求你進(jìn)行聚焦規(guī)則校驗(yàn)  但是  具體步驟沒(méi)有規(guī)定   因?yàn)楦骷业膬x器校驗(yàn)步驟差別很大  
我跟你說(shuō)了    你要是沒(méi)做過(guò)  將給你聽(tīng) 你也是不理解的   就像我說(shuō)的說(shuō) 延遲校驗(yàn) 靈敏度校驗(yàn)    或者 E-SCAN S-SCAN L-SCAN 或者VPA 這種  你要是沒(méi)做過(guò)   你確定你懂我在說(shuō)什么意思？

HAPPYNATION不要曲解別人的意思，我們談?wù)摰氖莾x器本身的周期校驗(yàn)，而你講的是每次檢測(cè)前系統(tǒng)的校準(zhǔn)。現(xiàn)在有哪個(gè)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了PAUT的儀器校驗(yàn)？請(qǐng)指出！

丁偉臣 發(fā)表于 2012-6-23 21:22
HAPPYNATION不要曲解別人的意思，我們談?wù)摰氖莾x器本身的周期校驗(yàn)，而你講的是每次檢測(cè)前系統(tǒng)的校準(zhǔn)。現(xiàn)在 ...

ASME V  Article4的 強(qiáng)制性附錄4里面有說(shuō)到
除了常規(guī)的要求以外  還有要求聚焦規(guī)則和聲束的校驗(yàn)   但是  寫(xiě)的很模糊
然后 非強(qiáng)制性附錄 E 里面有提供一個(gè)試塊  但是也沒(méi)有具體的要求   就說(shuō)跟實(shí)際的尺寸對(duì)比

所以  我的理解是計(jì)算機(jī)成像技術(shù)的UT滿足 一般數(shù)字機(jī)的要求就行了   還有跟實(shí)際的缺陷對(duì)比就行了    SIUI有一個(gè)專門(mén)的試塊測(cè)試儀器性能的  挺不錯(cuò)的 但是我問(wèn)他們是根據(jù)哪個(gè)標(biāo)準(zhǔn)做的  他們很含糊的說(shuō)是ASME  但是我看了跟ASME并不一樣      國(guó)外的培訓(xùn)中心也有 試塊   但是也是自制的

happynation 發(fā)表于 2012-6-23 21:02
暈死
第一次聽(tīng)到 還有校準(zhǔn)和校驗(yàn)兩個(gè)屬于的區(qū)別   麻煩你解釋一下他們各自的定義吧
校驗(yàn)只包括 儀器性 ...

奧林巴斯的儀器，舉個(gè)例子：Epoch 1000i。校準(zhǔn)的步驟分三步：聲速，探頭延遲，增益。
首先先校準(zhǔn)聲速，然后進(jìn)行延遲和增益的校準(zhǔn)。先后順序無(wú)所謂。但想要得到精確的探頭延遲校準(zhǔn)，可在聲速后先校準(zhǔn)增益。
校準(zhǔn)聲速：校準(zhǔn)聲波在工件中傳播的速度；
校準(zhǔn)探頭延時(shí)：因?yàn)橄嗫仃囀怯啥鄠€(gè)角度組成的一束聲束，所以每一個(gè)角度在楔塊中傳播的距離是不相等的，校準(zhǔn)延時(shí)的作用就是為了讓每條聲束從進(jìn)入工件那一時(shí)刻開(kāi)始算起；
校準(zhǔn)增益：如第二條所述，相控陣是一個(gè)發(fā)散的聲束，其間有多個(gè)角度。所以每個(gè)角度在工件中傳播的時(shí)間不等，因此會(huì)造成在同一深度，各個(gè)角度看到的不連續(xù)圖像會(huì)不一樣。具體表現(xiàn)為：小角度的波高大于或小于大角度的波高（小于還是大于要看近場(chǎng)區(qū)的分布情況）  


我只是想問(wèn)問(wèn)相控陣的儀器該怎么“校驗(yàn)”，就像我們常規(guī)的A scan儀器要校驗(yàn)水平現(xiàn)行和垂直線性等。可能我的用詞不準(zhǔn)確。明白意思就好。當(dāng)然我所謂的校驗(yàn)是對(duì)儀器和探頭整個(gè)性能的檢驗(yàn)。
您對(duì)相控陣熟悉，還請(qǐng)多加指點(diǎn)。謝謝

A SCAN:常規(guī)A掃描
B SCAN:側(cè)視圖
C SCAN:頂視圖
E SCAN:不知，請(qǐng)指教
L SCAN:側(cè)視圖  線性掃描
S SCAN:端試圖 扇形掃差
VPA:虛擬探頭孔徑，是把多少個(gè)晶片作為一個(gè)“虛擬探頭”來(lái)一次激發(fā)超聲波

糟老頭子 發(fā)表于 2012-6-24 04:36
A SCAN:常規(guī)A掃描
B SCAN:側(cè)視圖
C SCAN:頂視圖

E-SCAN 就是電子掃描的意思  一個(gè)探頭里面通過(guò)電子控制形成不同的虛擬探頭進(jìn)行掃描
VPA 則是特指L-SCAN里面的虛擬探頭  S-SCAN里面是沒(méi)有VPA這個(gè)概念的
L-SCAN是指線性掃查
S-SCAN 則有兩個(gè)含義  可以指扇形掃查   也可以指端視圖

測(cè)試的時(shí)候  當(dāng)然一開(kāi)始你要輸入探頭 楔塊的型號(hào)  然后制定一個(gè)檢驗(yàn)方案 根據(jù)檢驗(yàn)方案輸入聚焦規(guī)則  
校驗(yàn)部分 首先校驗(yàn)聲速  接著是校驗(yàn)探頭延遲  然后是靈敏度校驗(yàn)（就是你說(shuō)的增益校驗(yàn)）  再做一個(gè)至少三點(diǎn)的TCG   最后優(yōu)化顯示窗口    就可以開(kāi)始進(jìn)行檢測(cè)了    按照你的表述  你前面的步驟及其作用都明白了啊  你說(shuō)的三步做完了   再做一個(gè)TCG就可以了   優(yōu)化窗口是不是做  其實(shí)也沒(méi)太大關(guān)系

PAUT的儀器性能校驗(yàn)  一般傳統(tǒng)UT需要做的  PAUT都需要做  另外  PAUT還有些特殊要求  比如 周向分辨力   角度分辨力   遠(yuǎn)表面 近表面分辨力  包括上面提到的探頭延遲  靈敏度校驗(yàn)    但是 這些參數(shù)除了 探頭延遲和靈敏度校驗(yàn)有推薦數(shù)值以外  其他的參數(shù)貌似沒(méi)有看到具體規(guī)定  只能說(shuō)用來(lái)測(cè)試  你儀器的極限性能是多少  但是  并非有強(qiáng)制規(guī)定

其實(shí)根據(jù)我的理解 PAUT的性能只要達(dá)到傳統(tǒng)UT的那些要求  目前來(lái)看就算是合格的了    然后你對(duì)比圖像和真實(shí)的人工缺陷  能夠?qū)ι暇托?nbsp; 但是容許多少誤差  沒(méi)有看到相關(guān)規(guī)定   一般來(lái)說(shuō)不會(huì)有很多誤差 因?yàn)?圖像都是基于A-SCAN生成的   而A-SCAN的準(zhǔn)確性你已經(jīng)檢查過(guò)了