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縱波雙晶直探頭零偏測試，不會出現(xiàn)樓主所說的情況；高級數(shù)字機一般可以選擇峰值模式、前沿模式等測量。一般數(shù)字機閘門讀取采用的是前沿模式測量。無論采用哪種模式測量，只要模式不變，對檢測的影響很微小。
縱波雙晶直探頭零偏測試應(yīng)注意方法，同時注意一次回波后變型回波以及聲速測試。
個人感覺調(diào)試零偏和聲速后，最好用另外一個試塊校核一下。

{:soso_e194:}

楓林晚 發(fā)表于 2013-12-31 11:43
看你儀器測試時的讀取回波的模式，國內(nèi)儀器一般都是峰值模式（個人估計，不知道是否有誤），也就是最高波， ...

層主說的情況峰值模式是單晶探頭只有主聲束發(fā)生反射才是最高波，那樣的話零偏肯定是固定的。
現(xiàn)在雙晶探頭發(fā)現(xiàn)缺陷的時候并不一定是主聲束反射了反射

luolang1314 發(fā)表于 2013-12-31 13:16
縱波雙晶直探頭零偏測試，不會出現(xiàn)樓主所說的情況；高級數(shù)字機一般可以選擇峰值模式、前沿模式等測量。一般 ...

層主您好，我的意思是校正零偏的時候可能是主聲束發(fā)生了反射被接收晶片接收，這樣的話儀器記錄的零偏就是主聲束往返有機玻璃的時間
實際檢測的時候因為并不一定是主聲束發(fā)生反射
如附件，不知道我表述的是否清楚

楓林晚 發(fā)表于 2013-12-31 11:43
看你儀器測試時的讀取回波的模式，國內(nèi)儀器一般都是峰值模式（個人估計，不知道是否有誤），也就是最高波， ...

層主您好 我畫了圖說了一下自己的困惑，在下層 不知道我表述的是否清楚

看了六樓的圖片，終于明白你指的是什么了。
由于雙晶探頭的聲學(xué)特性，在距離校準(zhǔn)過程中，隨著材料厚度的減小，會出現(xiàn)非線性。而多數(shù)超聲波探傷儀中沒有V聲程修正功能。建議你在進(jìn)行距離校準(zhǔn)時，使用一個能夠覆蓋所有檢測范圍的階梯試塊。在解讀范圍以外的讀數(shù)時，應(yīng)格外謹(jǐn)慎！
另外在你用薄試塊校準(zhǔn)雙晶探頭零位時，建議把增益調(diào)的很大，以便于底面回波的上升沿基本垂直，參考附件照片。

糟老頭子 發(fā)表于 2013-12-31 16:24
看了六樓的圖片，終于明白你指的是什么了。
由于雙晶探頭的聲學(xué)特性，在距離校準(zhǔn)過程中，隨著材料厚度的減 ...

多謝了 我不明白的應(yīng)該就是這里 有了V聲程修正就可以解釋了{(lán):soso_e183:}

天空 發(fā)表于 2013-12-31 14:00
層主您好 我畫了圖說了一下自己的困惑，在下層 不知道我表述的是否清楚

你這是聲線模型，與實際聲束路徑是不同的；的確存在你所講的零偏漂移現(xiàn)象，但其主要原因不是由于圖示聲束路徑不同產(chǎn)生的。
而是聲場、聲壓與距離或聲程的非線性原理引起的。不僅縱波雙晶直探頭會有這個現(xiàn)象，單晶直探頭、單晶斜探頭、縱波雙晶斜探頭都存在這個現(xiàn)象--不同厚度或聲稱的試塊或人工反射體校核的零點不同（不能排除耦合、溫度、探頭壓力等因素影響）。其零偏漂移還與儀器、探頭組合的電子穩(wěn)定性、探頭的回波形態(tài)、頻散特性等有關(guān)。其誤差范圍一般在零點幾微秒，不會影響檢測定位。你的圖示放大了這個影響。縱波雙晶直探頭聲速和零偏的校核不確定因素較多，因零漂引起定位誤差一般是可以接受的(除非定位誤差達(dá)到2mm以上）

luolang1314 發(fā)表于 2013-12-31 17:36
你這是聲線模型，與實際聲束路徑是不同的；的確存在你所講的零偏漂移現(xiàn)象，但其主要原因不是由于圖示聲束 ...

我也沒見過那一款超聲波探傷儀有v聲程修正的功能，但我見過有的測厚儀有這個功能（如olympus的38DL），它可以對雙晶探頭的非線性進(jìn)行“多點校準(zhǔn)”來彌補V聲程導(dǎo)致的深度測量誤差。
注：這不是聲速導(dǎo)致的誤差，而是因為兩個晶片在深度方向所對應(yīng)的深度是非線性導(dǎo)致的。