各位專家看看這二張圖

材料為15CrMoR的，74mm后，分2組掃查，第一組PCS=110，探頭型號7.5MHZ,70度，組二PCS=222，探頭型號5MHZ;60度。直接用工件調的靈敏度，由于沒帶試塊，如果按照直通波調節滿屏的40%~80%，則晶粒波則達到滿屏的20%~30%。導致圖譜太亮，缺陷顯示不明顯。


如果按照晶粒波調節靈敏度，調為滿屏的5%~10%的話，直通波的波高只有20%~30%。請問這直通波那么低？

這應該不算是缺陷，熱處理后就沒有了

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可不可通過優化儀器參數設置來達到滿意的結果呢？比如選擇帶通 平均值 能量等呢？

7.5MHZ   一通道是否合適？  7.5MHZ衰減大   110mm的距離   調制40%~80%FSH   勢必噪聲加大

不錯,學習了.

樓主你好，小弟現在對TOFD進行一些學習，需要一些實際采集到的圖像數據， 就是多少行多少列的數據，從儀器中導出來的，最好有近表面缺陷的，如果有麻煩發我一下，[email protected]不勝感激！

不錯，有道理，學到了。