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縱波雙晶直探頭零偏測試，不會出現樓主所說的情況；高級數字機一般可以選擇峰值模式、前沿模式等測量。一般數字機閘門讀取采用的是前沿模式測量。無論采用哪種模式測量，只要模式不變，對檢測的影響很微小。
縱波雙晶直探頭零偏測試應注意方法，同時注意一次回波后變型回波以及聲速測試。
個人感覺調試零偏和聲速后，最好用另外一個試塊校核一下。

{:soso_e194:}

楓林晚 發表于 2013-12-31 11:43
看你儀器測試時的讀取回波的模式，國內儀器一般都是峰值模式（個人估計，不知道是否有誤），也就是最高波， ...

層主說的情況峰值模式是單晶探頭只有主聲束發生反射才是最高波，那樣的話零偏肯定是固定的。
現在雙晶探頭發現缺陷的時候并不一定是主聲束反射了反射

luolang1314 發表于 2013-12-31 13:16
縱波雙晶直探頭零偏測試，不會出現樓主所說的情況；高級數字機一般可以選擇峰值模式、前沿模式等測量。一般 ...

層主您好，我的意思是校正零偏的時候可能是主聲束發生了反射被接收晶片接收，這樣的話儀器記錄的零偏就是主聲束往返有機玻璃的時間
實際檢測的時候因為并不一定是主聲束發生反射
如附件，不知道我表述的是否清楚

楓林晚 發表于 2013-12-31 11:43
看你儀器測試時的讀取回波的模式，國內儀器一般都是峰值模式（個人估計，不知道是否有誤），也就是最高波， ...

層主您好 我畫了圖說了一下自己的困惑，在下層 不知道我表述的是否清楚

看了六樓的圖片，終于明白你指的是什么了。
由于雙晶探頭的聲學特性，在距離校準過程中，隨著材料厚度的減小，會出現非線性。而多數超聲波探傷儀中沒有V聲程修正功能。建議你在進行距離校準時，使用一個能夠覆蓋所有檢測范圍的階梯試塊。在解讀范圍以外的讀數時，應格外謹慎！
另外在你用薄試塊校準雙晶探頭零位時，建議把增益調的很大，以便于底面回波的上升沿基本垂直，參考附件照片。

糟老頭子 發表于 2013-12-31 16:24
看了六樓的圖片，終于明白你指的是什么了。
由于雙晶探頭的聲學特性，在距離校準過程中，隨著材料厚度的減 ...

多謝了 我不明白的應該就是這里 有了V聲程修正就可以解釋了{:soso_e183:}

天空 發表于 2013-12-31 14:00
層主您好 我畫了圖說了一下自己的困惑，在下層 不知道我表述的是否清楚

你這是聲線模型，與實際聲束路徑是不同的；的確存在你所講的零偏漂移現象，但其主要原因不是由于圖示聲束路徑不同產生的。
而是聲場、聲壓與距離或聲程的非線性原理引起的。不僅縱波雙晶直探頭會有這個現象，單晶直探頭、單晶斜探頭、縱波雙晶斜探頭都存在這個現象--不同厚度或聲稱的試塊或人工反射體校核的零點不同（不能排除耦合、溫度、探頭壓力等因素影響）。其零偏漂移還與儀器、探頭組合的電子穩定性、探頭的回波形態、頻散特性等有關。其誤差范圍一般在零點幾微秒，不會影響檢測定位。你的圖示放大了這個影響。縱波雙晶直探頭聲速和零偏的校核不確定因素較多，因零漂引起定位誤差一般是可以接受的(除非定位誤差達到2mm以上）

luolang1314 發表于 2013-12-31 17:36
你這是聲線模型，與實際聲束路徑是不同的；的確存在你所講的零偏漂移現象，但其主要原因不是由于圖示聲束 ...

我也沒見過那一款超聲波探傷儀有v聲程修正的功能，但我見過有的測厚儀有這個功能（如olympus的38DL），它可以對雙晶探頭的非線性進行“多點校準”來彌補V聲程導致的深度測量誤差。
注：這不是聲速導致的誤差，而是因為兩個晶片在深度方向所對應的深度是非線性導致的。