超聲檢測 環(huán)形鍛件 ASTM A388

想討論一下 ASTM388規(guī)定 需要用斜探頭對環(huán)形和中空鍛件檢測，但是也要求內(nèi)徑與外徑之比小于2.0。
按照管材能否被橫波檢測的要求是壁厚與外徑比小于0.2 則認為可以檢測。
那么如果不滿足這些條件，是不是就沒有必要做橫波周向檢測了呢？而且即使用45度斜探頭 可檢測的最大深度也只是0.3R。

樓主對這個標準的條文解讀貌似有偏差。第一：術(shù)語理解錯誤，標準里說的是斜射波，斜射波可以是橫波也可以是縱波。第二：標準雖然推薦是用45度的斜探頭，但也規(guī)定了有例外的情況和出現(xiàn)該情況時的具體操作規(guī)定。

楓林晚 發(fā)表于 2014-7-3 13:38
樓主對這個標準的條文解讀貌似有偏差。第一：術(shù)語理解錯誤，標準里說的是斜射波，斜射波可以是橫波也可以是 ...

多謝二樓指點。的確是個人理解有偏差。原文是這樣的9.3.1Perform the examination from the circumference of rings and hollow forgings that have an axial length greater than 2 in and an OD to ID ratio of less than 2.0 to 1.
       9.3.2 use a 1Mhz,45° angle-beam search unit unless thickness,OD/ID ratio, or other geometric configuration results in failure to achive calibration.Other frequencies may be used if desirable for better resolution,penetrability,or detectability of flaws.For angle-beam inspection of hollow forgings up to 2.0-1 ratio,provide the transducer with a wedge or shoe that will result in the beam mode and angle required by the size and shape of the cross section under examination.
翻譯過來是這樣：從周向?qū)穸却笥?in和外徑內(nèi)徑比小于2.0-1的環(huán)形和中空鍛件檢測。
                           使用一個1Mhz 45°的斜探頭，除非是厚度，外徑內(nèi)徑比，或者其他幾何形狀限制導致校準失敗。如果要求更好的分辨力，穿透力或者最小可探缺陷，也可以使用其他頻率的探頭。對于中空鍛件外徑與內(nèi)徑比達到2.0-1比例的，給探頭加裝楔塊或者探頭靴，以便根據(jù)截面尺寸和形狀得到所需要的波型和角度。


這樣說來不用橫波斜探頭的話，還是需要使用縱波斜探頭來檢驗了。只是這個折射角度需要根據(jù)工件的尺寸形狀來定了。這樣理解對么？

對的

楓林晚 發(fā)表于 2014-7-3 22:43
對的

嗯 多謝樓上。 我算了一下，需要用折射角19度的縱波斜探頭，才能將這些工件的母材全部覆蓋。不過問題是 ，這個探頭同時也會產(chǎn)生9°左右的折射橫波，橫波聲速比縱波慢一倍，回波理論上講應該在縱波的底波或者缺陷波之后。請問有沒有什么需要注意的地方？盼不吝賜教。
目前正準備訂購這個探頭，好在不貴，只要85塊錢。不知道這么便宜的東西靠譜不靠譜啊，做項目畢竟不是兒戲。。。

請注意外層區(qū)域的檢測，A388規(guī)定是內(nèi)外壁刻V型槽，如何滿足標準要求，使得外壁的檢測達到標準要求，如果內(nèi)壁無法進行檢測的話，要另想辦法了。

楓林晚 發(fā)表于 2014-7-4 14:27
請注意外層區(qū)域的檢測，A388規(guī)定是內(nèi)外壁刻V型槽，如何滿足標準要求，使得外壁的檢測達到標準要求，如果內(nèi) ...

關(guān)于這一點 388是這樣說的：9.3.3   .....When the OD notch cannot be detected when examining the OD surface,perform the  examination when practicable(some ID may be too small to permit examination) ,as indicated above from both the OD and ID surfaces. Utilize the ID notch when inspecting from OD, and the OD notch when inspecting from the ID.Curve wedges or shoes may be used when necessary and practicable.

翻譯過來的意思是  向外圓面檢測的時候，如果外圓切口無法被檢測到，如果可行的話就做這個外圓檢測（有些內(nèi)孔太小而無法檢測），正如上所述從兩個外圓和內(nèi)圓面進行檢測。使用內(nèi)圓缺口檢測外圓，使用外圓缺口檢測內(nèi)圓.如果可行的話，可以使用彎曲的楔塊或者探頭靴。

也就是說： 如果內(nèi)孔就是太小了，可以不做外圓面的檢測。如果內(nèi)孔還可以的話 就用探頭靴耦合一下來檢測外圓面。我們這次接觸的情況是由于廠家疏忽，環(huán)形工件已經(jīng)沒有余量。聯(lián)系客戶后，認為可以采用RB-3試塊做DAC 。
但是問題是怎么檢測外圓面呢？做了探頭靴的話，靈敏度肯定受影響，折射的角度也會有些許變化。所以這樣的話，還是需要單獨的試塊來校準這個帶探頭靴的探頭，包括入射點，靈敏度等等。


另外，從內(nèi)圓檢測外圓的話就不存在幾何形狀限制，完全可以采用橫波斜探頭來做了，用K1應該沒限制吧？
而從外圓檢測內(nèi)圓只能用小角度的縱波斜探頭了。