微波和毫米波信號的頻率范圍為300兆赫到300千兆赫，對應(yīng)波長范圍為1000毫米到1毫米。這些頻率的信號很容易穿透電介質(zhì)材料和復(fù)合材料，并與內(nèi)部結(jié)構(gòu)相互作用。在電介質(zhì)材料和復(fù)合材料內(nèi)部，與內(nèi)部結(jié)構(gòu)相互作用。與這些信號相關(guān)的相對較小的波長和寬的帶寬能夠產(chǎn)生高空間分辨率的材料和結(jié)構(gòu)圖像。結(jié)合透鏡聚焦和近場技術(shù)等成像技術(shù)，合成孔徑聚焦，基于更先進(jìn)和獨(dú)特的毫米波成像系統(tǒng)的魯棒反向傳播算法的航空攝影方法，帶來了這個領(lǐng)域的一系列活動，特別是無損評估（NDE）應(yīng)用。這些成像系統(tǒng)和技術(shù)已成功地應(yīng)用于廣泛的關(guān)鍵無損檢測相關(guān)的應(yīng)用。

       盡管近場技術(shù)在過去也被廣泛地應(yīng)用于這些應(yīng)用中，但由于改變了距離和圖像制作過程的緩慢性，導(dǎo)致了一些新穎的、自動的距離變化消除技術(shù)。最終，成像技術(shù)必須產(chǎn)生高分辨率的3D圖像，成為實(shí)時(shí)的，并使用便攜式系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)。為此目的，為了加快成像過程，同時(shí)提供高分辨率圖像，幾年前演示了一種由576個共振槽元件組成的6“6”單鏡頭快速便攜式成像系統(tǒng)（微波攝像機(jī)）的設(shè)計(jì)和演示。隨后，人們致力于設(shè)計(jì)和實(shí)現(xiàn)這種成像系統(tǒng)的幾種不同的變化，以適應(yīng)單邊和單聲道靜態(tài)成像，同時(shí)利用非均勻快速掃描對象，以及將工作頻率提高到更高的毫米波頻率，從而實(shí)現(xiàn)三維圖像生成。這些努力已經(jīng)開發(fā)出一種實(shí)時(shí)、便攜、高分辨率和三維成像微波攝像機(jī)，其工作在最近完成的20-30 GHz頻率范圍內(nèi)。本文介紹了這些技術(shù)的概況，并列舉了幾個典型的例子，這些成像技術(shù)有效地為許多關(guān)鍵的NDE問題提供了可行的解決方案。

       R. Zoughi獲得了他的電機(jī)工程學(xué)士學(xué)位，電機(jī)工程學(xué)碩士和博士學(xué)位，他在美國堪薩斯大學(xué)電子工程（雷達(dá)遙感、雷達(dá)系統(tǒng)和微波）的電氣工程專業(yè)博士學(xué)位，從1981年到1987年，他都在雷達(dá)系統(tǒng)和遙感實(shí)驗(yàn)室（RSL）中工作。隨后，在1987年，他加入了科羅拉多州立大學(xué)（基社盟）的電氣和計(jì)算機(jī)工程系，在那里他建立了應(yīng)用微波無損檢測實(shí)驗(yàn)室（amntl）。1995年至1997年期間，他在基社盟任職，擔(dān)任電子與計(jì)算機(jī)工程專業(yè)教授。2001年，他加入了密蘇里科技大學(xué)的電氣與計(jì)算機(jī)工程系，前身為密蘇里大學(xué)羅拉分校（UMR），作為斯倫貝謝公司的特聘教授。他現(xiàn)在的研究領(lǐng)域包括以下幾方面：

（1）為微波和毫米波測試和評估的材料開發(fā)新的無損技術(shù)；

（2）開發(fā)新的電磁探針和傳感器測量特征屬性的材料在微波頻段；

（3）開發(fā)嵌入式調(diào)制散射取決于目的的技術(shù)和實(shí)時(shí)高分辨率成像系統(tǒng)的發(fā)展。

       他是《微波無損檢測和評估原理》的作者，并在一本名為“非破壞性評價(jià)：理論、技術(shù)和應(yīng)用”的本科生入門教科書中，合著了一章關(guān)于微波技術(shù)的文章。他在基社盟和密蘇里科技大學(xué)獲得了無數(shù)的教學(xué)獎項(xiàng)。他是超過590篇期刊論文，會議記錄，演講和技術(shù)報(bào)告的合著者。他在微波無損檢測和評估領(lǐng)域擁有18項(xiàng)專利。他是2007年IEEE儀表和測量學(xué)會杰出服務(wù)獎的獲得者，2009年美國無損檢測協(xié)會（ASNT）的持續(xù)卓越研究獎，以及2011年IEEE Joseph f.Keithley在儀器和測量方面的獎項(xiàng)。在2013年，他和他的合作者們獲得了美國電子與工程學(xué)會的電子和傳播學(xué)會（APS）的論文，該獎項(xiàng)與24 GHz的實(shí)時(shí)微波相機(jī)的設(shè)計(jì)有關(guān)。他是美國電子與電子工程師協(xié)會（IEEE）的研究員，美國無損檢測協(xié)會（ASNT）的成員，并擔(dān)任IEEE測量與測量（2007-2011）和IEEE儀表測量學(xué)會（2014-2015）的主席。目前，他是IEEE國際儀表和測量技術(shù)會議（I2MTC）的主席。他曾任職于IEEE技術(shù)活動委員會（TAB）出版物服務(wù)與產(chǎn)品委員會（PSPB）（2015年，2017-2018），被選為一個大型的IEEE PSPB成員（2016-2018），并且是IEEE Xplore平臺指導(dǎo)小組的成員。

（譯者注：可能有翻譯的不到位的地方，煩請諒解，原文見附件）